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刘华

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：上海交通大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇时序电路
  • 1篇自动测试生成
  • 1篇VLSI电路

机构

  • 1篇上海交通大学

作者

  • 1篇胡逢曜
  • 1篇周天戎
  • 1篇刘泽坚
  • 1篇刘华

传媒

  • 1篇微电子测试

年份

  • 1篇1995
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
时序电路可及状态的枚举和自动测试生成被引量：1
1995年
复杂时序电路的测试生成被公认为VL-SI电路测试的难题之一。本文在分析已发表文献对此问题研究情况的基础上,提出一种实用的、可靠的测试生成方法。本方法的特点有二。一是以时序电路可及状态的分析为依据,建立同步、异步时序电路测试的统一数学模型,完全地、准确地反映电路的稳态功能。二是以图论算法为工具,从电路强连通状态转换图中找出最优测试向量序列。此法适用于数字系统层次或功能测试,有效地降低计算复杂性,加快测试生成速度,可望发展成为VLSI电路实用化测试生成方法的一条新途径。
刘泽坚刘华周天戎胡逢曜
关键词：时序电路VLSI电路
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