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徐春晖

作品数：4 被引量：4H指数：1
供职机构：武汉理工大学更多>>
发文基金：中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇位移传感器
  • 3篇光纤
  • 3篇干涉仪
  • 3篇感器
  • 3篇传感
  • 3篇传感器
  • 2篇正负脉冲
  • 2篇解调系统
  • 2篇隔离器
  • 2篇光纤隔离器
  • 2篇F-P干涉仪
  • 1篇信号
  • 1篇强信号
  • 1篇解调
  • 1篇解调算法
  • 1篇金属
  • 1篇光纤位移传感...
  • 1篇光学
  • 1篇光学测量
  • 1篇贵金属

机构

  • 4篇武汉理工大学

作者

  • 4篇徐春晖
  • 3篇黎敏
  • 3篇舒卓
  • 1篇童斌
  • 1篇陈凤翔

传媒

  • 1篇中国激光

年份

  • 2篇2016
  • 2篇2013
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统
本发明提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统，将两路干涉光强信号直接相除，所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲，通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小，光程差改变一个波长时...
黎敏舒卓徐春晖
文献传递
基于双路比值条纹计数法的法布里-珀罗腔位移传感器被引量：3
2013年
为了解决普通条纹计数法在余弦信号极大／极小值位置难于判向的问题，提出一种基于双法布里-珀罗（F-P）干涉仪的比值条纹计数法。利用正切信号在相位为π／2整数倍时发生跳变的特点，取两路正交余弦干涉信号的比值（即为正切信号），再通过对跳变脉冲计数，在测量相位差大小的同时，实现了对相位变化方向的判定。本方法对传感器两光路之间的初始相位差无严格要求，安装调试简单。实验结果表明，以位移传感为例，系统在0～1mm的测量范围内，线性相关系数达到0．9999，线性度为0．306％，误差限值为±3μm。
舒卓童斌徐春晖陈凤翔黎敏
关键词：传感器光纤位移传感器法布里-珀罗干涉仪
纳米薄膜厚度的光学测量方法研究
薄膜厚度是决定薄膜性质和性能的最基本参量之一。随着现代镀膜工艺的不断发展，实现对纳米量级薄膜（几纳米到几百纳米范围内）厚度的准确测量变得非常重要。在目前通用的机械法、光学法等方法中，光学测量方法因为具有精度高、速度快、无...
徐春晖
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基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统
本发明提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统，将两路干涉光强信号直接相除，所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲，通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小，光程差改变一个波长时...
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