邢世通
- 作品数：6 被引量：6H指数：1
- 供职机构：上海理工大学更多>>
- 发文基金：上海市教育委员会重点学科基金上海市教育发展基金会晨光计划项目国家自然科学基金更多>>
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- 后向动态光散射系统的像差分析与校正
- 2012年
- 针对后向动态光散射颗粒测量系统信噪比较低的问题,从光学系统的像差入手,采用Zemax对其进行了仿真和分析,并提出了校正方案。首先介绍了后向动态光散射颗粒测量系统的基本原理和光学系统,从校正像差的角度出发,采用Zemax对后向动态光散射系统进行仿真,并对其像差进行分析。然后根据仿真结果,提出了校正方案,采用Ze-max设计了方案中的参数,得出了理论上的校正结果。最后采用优化好的结果进行后向动态光实验,得到了实验数据。均值误差和重复性误差分别达到了1.52%和1.24%。满足国标均值误差和重复性误差小于2%的要求。
- 邢世通杨晖郑刚杨依枫
- 关键词：像差ZEMAX
- 用于亚微米颗粒测量的后向散射光谱法被引量：6
- 2011年
- 针对后向散射光谱粒径测量法对亚微米颗粒测量准确度较差的问题,提出了一种采用紫外光作为光源的测量方法.通过快速傅里叶变换计算了粒径为0.25～1μm的聚苯乙烯亚微米颗粒的后向散射频谱,将频谱峰值对应的频率值与相应的颗粒粒径进行线性回归,各粒径值相对于回归直线的平均误差为±0.02μm.结果表明,本文提出的300～400nm的紫外光适用于测量0.25～1μm的亚微米颗粒,相比目前国外最新的采用可见光谱或红外光谱的方法准确度提高了一个数量级,同时该方法也适用于测量双峰分布亚微米颗粒系.
- 杨依枫杨晖郑刚刘国斌邢世通
- 关键词：后向散射快速傅里叶变换
- 一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置及方法
- 本发明涉及一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置及方法，激光器发射的光束依次经过起偏器、透镜聚焦到样品池，样品池发出的与入射光路成90度的散射光经过第一针孔光阑后通过对称二分支光功率分配器后分离成两路光路，两路光路分别经...
- 邢世通杨晖郑刚
- 文献传递
- 一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置
- 本实用新型涉及一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置，激光器发射的光束依次经过起偏器、透镜聚焦到样品池，样品池发出的与入射光路成90度的散射光经过第一针孔光阑后通过对称二分支光功率分配器后分离成两路光路，两路光路分别经过...
- 邢世通杨晖郑刚
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- 一种亚微米颗粒粒径测量装置
- 本实用新型涉及一种亚微米颗粒粒径测量装置，氙灯出射的白光经过滤光片滤光后，经聚焦透镜聚焦耦合到入射光纤，照射样品池中的颗粒，出射光纤将颗粒后向散射光传导至光谱仪，光谱仪采集光谱数据输入计算机。利于测量粒径较小的亚微米颗粒...
- 杨依枫杨晖郑刚刘国斌邢世通
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- 一种测量高浓度纳米颗粒的背散射装置
- 本实用新型涉及一种测量高浓度纳米颗粒的背散射装置，激光器发射出光依次经过起偏器、中间带有小孔的平面反射镜、第一双胶合透镜，聚焦于样品池上，组成入射光路；由样品池发出的颗粒散射光依次通过双胶合透镜、中间带有小孔的平面反射镜...
- 邢世通杨晖郑刚
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