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赵琼

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：湖南大学物理与微电子科学学院应用物理系更多>>
发文基金：湖南省自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇多芯片
  • 1篇多芯片组件
  • 1篇指令寄存器
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片组件
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇寄存器
  • 1篇JTAG
  • 1篇MCM

机构

  • 1篇湖南大学

作者

  • 1篇刘晓巍
  • 1篇张红南
  • 1篇华孝泉
  • 1篇罗丕进
  • 1篇赵琼

传媒

  • 1篇湖南大学学报...

年份

  • 1篇2005
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
多芯片组件(MCM)的可测性设计被引量：1
2005年
为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试.建立模型进行验证的结果表明:该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95%以上.
张红南赵琼刘晓巍华孝泉罗丕进
关键词：多芯片组件JTAG可测性设计MCM指令寄存器
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共1页<1>
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