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秦晨飞
作品数:
5
被引量:1
H指数:1
供职机构:
中国电子科技集团第五十八研究所
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相关领域:
电子电信
自动化与计算机技术
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合作作者
刘士全
中国电子科技集团第五十八研究所
徐睿
中国电子科技集团第五十八研究所
严华鑫
中国电子科技集团第五十八研究所
蔡洁明
中国电子科技集团第五十八研究所
魏敬和
中国电子科技集团第五十八研究所
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作者
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刘士全
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设备抗辐照加固再设计方法
本发明涉及抗辐照加固技术领域,尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤:步骤一,对设备进行真实辐照环境下的辐照试验,并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转;步骤二,对设备进行故障仿真,判定只要单粒子发生翻转必定会导...
秦晨飞
魏敬和
刘士全
徐睿
蔡洁明
顾展宏
文献传递
一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法
被引量:1
2016年
介绍了一种新型的可对CMOS元器件长期贮存寿命做出评价的试验方法。对CMOS元器件样品分别进行常温贮存试验和高温贮存试验,通过常温贮存试验累积试验数据,并以此研究总结CMOS元器件长期贮存性能参数变化的规律,通过高温贮存试验加速元器件常温贮存过程,在实验过程中定期对样品器件进行测试。通过对常温贮存数据和高温加速贮存数据进行比对分析,并利用阿伦尼斯模型进行数据处理,从而在较短的时间内对元器件长期贮存寿命做出评价。
刘士全
徐超
秦晨飞
王健军
关键词:
CMOS器件
数据处理
一种应用于高幅值差分信号的自动化采集测试方法
本发明涉及一种应用于高幅值差分信号自动化采集测试方法,采用了NI系统控制示波器进行数据自动采集测试,并配合测试机系统完成测试向量的输入与测试结果的判断显示。该方法将高幅值差分信号进行自动采集测试回传,并将测试结果自动保存...
刘士全
秦晨飞
严华鑫
徐睿
汤赛楠
文献传递
设备抗辐照加固再设计方法
本发明涉及抗辐照加固技术领域,尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤:步骤一,对设备进行真实辐照环境下的辐照试验,并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转;步骤二,对设备进行故障仿真,判定只要单粒子发生翻转必定会导...
秦晨飞
魏敬和
刘士全
徐睿
蔡洁明
顾展宏
一种应用于高幅值差分信号的自动化采集测试方法
本发明涉及一种应用于高幅值差分信号自动化采集测试方法,采用了NI系统控制示波器进行数据自动采集测试,并配合测试机系统完成测试向量的输入与测试结果的判断显示。该方法将高幅值差分信号进行自动采集测试回传,并将测试结果自动保存...
刘士全
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