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秦晨飞

作品数：5 被引量：1H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇信号
  • 2篇数据自动采集
  • 2篇锁存
  • 2篇文本文件
  • 2篇向量
  • 2篇抗辐照
  • 2篇抗辐照加固
  • 2篇故障仿真
  • 2篇仿真
  • 2篇辐照加固
  • 2篇幅值
  • 2篇测试向量
  • 2篇差分
  • 2篇差分信号
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇信号电路
  • 1篇真实环境
  • 1篇设计进度
  • 1篇数据处理

机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇刘士全
  • 5篇秦晨飞
  • 4篇徐睿
  • 2篇汤赛楠
  • 2篇魏敬和
  • 2篇蔡洁明
  • 2篇严华鑫
  • 1篇王健军
  • 1篇徐超

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2014
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
设备抗辐照加固再设计方法
本发明涉及抗辐照加固技术领域，尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤：步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，对设备进行故障仿真，判定只要单粒子发生翻转必定会导...
秦晨飞魏敬和刘士全徐睿蔡洁明顾展宏
文献传递
一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法被引量：1
2016年
介绍了一种新型的可对CMOS元器件长期贮存寿命做出评价的试验方法。对CMOS元器件样品分别进行常温贮存试验和高温贮存试验,通过常温贮存试验累积试验数据,并以此研究总结CMOS元器件长期贮存性能参数变化的规律,通过高温贮存试验加速元器件常温贮存过程,在实验过程中定期对样品器件进行测试。通过对常温贮存数据和高温加速贮存数据进行比对分析,并利用阿伦尼斯模型进行数据处理,从而在较短的时间内对元器件长期贮存寿命做出评价。
刘士全徐超秦晨飞王健军
关键词：CMOS器件数据处理
一种应用于高幅值差分信号的自动化采集测试方法
本发明涉及一种应用于高幅值差分信号自动化采集测试方法，采用了NI系统控制示波器进行数据自动采集测试，并配合测试机系统完成测试向量的输入与测试结果的判断显示。该方法将高幅值差分信号进行自动采集测试回传，并将测试结果自动保存...
刘士全秦晨飞严华鑫徐睿汤赛楠
文献传递
设备抗辐照加固再设计方法
本发明涉及抗辐照加固技术领域，尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤：步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，对设备进行故障仿真，判定只要单粒子发生翻转必定会导...
秦晨飞魏敬和刘士全徐睿蔡洁明顾展宏
一种应用于高幅值差分信号的自动化采集测试方法
本发明涉及一种应用于高幅值差分信号自动化采集测试方法，采用了NI系统控制示波器进行数据自动采集测试，并配合测试机系统完成测试向量的输入与测试结果的判断显示。该方法将高幅值差分信号进行自动采集测试回传，并将测试结果自动保存...
刘士全秦晨飞严华鑫徐睿汤赛楠
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