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何宏平

作品数:9 被引量:12H指数:2
供职机构:中国电子科技集团公司第三十八研究所更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 1篇科技成果

领域

  • 6篇电子电信
  • 2篇理学
  • 1篇经济管理
  • 1篇机械工程
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇可靠性
  • 2篇雷达
  • 1篇电路
  • 1篇多层膜
  • 1篇信号
  • 1篇信号处理
  • 1篇数字信号
  • 1篇数字信号处理
  • 1篇塑封
  • 1篇塑封集成电路
  • 1篇破坏性物理分...
  • 1篇微波组件
  • 1篇物理分析
  • 1篇模糊综合评判
  • 1篇模块化
  • 1篇军用
  • 1篇军用雷达
  • 1篇可靠性强化试...
  • 1篇雷达装备
  • 1篇环境应力

机构

  • 6篇华东电子工程...
  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 9篇何宏平
  • 3篇陆培永
  • 2篇李悰
  • 2篇许彦鑫
  • 1篇程明生
  • 1篇俞根苗
  • 1篇宋秀芬
  • 1篇施文武
  • 1篇董军
  • 1篇孙晓舟
  • 1篇杨传忠
  • 1篇刘张林
  • 1篇时嬿
  • 1篇胡爱明
  • 1篇张伟
  • 1篇谭剑美
  • 1篇高新成
  • 1篇高红星
  • 1篇陈春葆

传媒

  • 2篇电子产品可靠...
  • 1篇河南科技
  • 1篇发光学报
  • 1篇电子机械工程
  • 1篇电脑知识与技...
  • 1篇中国电子科学...
  • 1篇科技视界

年份

  • 2篇2017
  • 2篇2013
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2008
  • 1篇2006
  • 1篇2005
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
环境应力筛选方法及效果评估被引量:5
2005年
从环境应力筛选的概念出发,以某研制的组件为例,介绍了环境应力筛选的目的、方法以及筛选效果的评估,证实环境应力筛选是保证电子产品可靠性实现的重要环节。列举了环境应力筛选的注意事项。
陆培永何宏平
关键词:环境应力筛选
数字阵列模块老炼系统的研制被引量:4
2011年
数字阵列模块的筛选是剔除早期失效、提高产品使用可靠性的重要手段,而电老炼是其中重要的环节。针对数字阵列模块筛选的具体需求,提出了研究实用化的电老炼系统并详细阐述了系统设计方案,以达到提高产品可靠性的目的。
何宏平张伟
基于D-S证据融合的雷达安全性评估被引量:2
2006年
安全性是对雷达装备的一项重要要求,涉及到雷达的设计、生产、使用、管理等诸多方面。鉴于影响安全的因素多和不确定性,提出用模糊综合评判法进行量化处理,对雷达装备安全性进行综合评价。根据影响装备安全的因素建立了安全性指标体系,并建立了模糊综合评判模型,利用D-S证据融合法确定评价因素的权重,对装备安全性进行综合评估。根据评估结果,以指导雷达系统的安全性设计、生产与使用。
高红星何宏平
关键词:雷达装备安全性模糊综合评判
军用雷达数字信号处理模块化
高新成宋秀芬刘张林孙晓舟陈春葆俞根苗胡爱明谭剑美杨传忠程明生时嬿何宏平施文武
该项目根据雷达信号处理技术特点和应用情况,分析了常规雷达信号处理算法特征、分解方式和最佳的工程实现技术。在此基础上,该项目采用针对算法的信号处理模块化方案,以大规模专用电路芯片和通用可编程DSP芯片为基础,以并行流水处理...
关键词:
关键词:军用雷达
某微波组件可靠性强化试验研究
2013年
介绍通过可靠性强化试验(RET)来实现某微波组件质量与可靠性快速稳定的方法。该方法主要包括通过可靠性强化试验以及通过加强的使用环境应力试验来暴露某微波组件的潜在缺陷和薄弱环节,然后对强化试验期间发生的问题分析原因,将强化试验暴露的故障模式和产品研制过程中出现的故障模式对比得出可靠性强化试验能快速增长可靠性并使质量稳定的结论。尽可能地制定可行的改进设计方案,再次通过可靠性强化试验验证产品改进有效。
何宏平陆培永
关键词:微波组件可靠性可靠性强化试验
进口塑封集成电路键合点分层现象的识别被引量:1
2017年
进口塑封集成电路在军用电子设备中普遍使用,但由于采购渠道的限制,产品质量参差不齐,如何甄别有潜在风险的产品尤为重要。在本文中,我们报道了一起案例:通过补充筛选试验无法鉴别产品的潜在缺陷,但在进行破坏性物理分析时,通过X射线检查、金相显微和扫描电子显微检查发现引脚处键合点存在分层,分为上、下两层。进一步的我们通过电子能谱对分层的键合点和键合丝分别进行了成分分析,发现下层键合点材料成分为Au,而上层键合点和键合丝均为Cu。该案例可为同类产品的鉴别工作提供参考。
李悰许彦鑫何宏平
关键词:破坏性物理分析键合点
过程FMEA与失效分析在T/R组件中的运用研究
2010年
针对T/R收发模块在生产装配中产生的质量隐患,提出采用过程FMEA与失效分析技术有机结合,以故障模式与影响分析为主线,以器件级失效分析技术为分枝,准确、高效地进行故障定位,及时得出有效的纠正预防措施。
董军何宏平
nc-Ge/SiN_x多层膜的光致发光特性
2017年
通过将a-Ge∶H/a-SiN_x多层膜进行氧化,制备了nc-Ge/SiN_x多层膜。观察到了室温下的强烈可见光发射,发光波长为500nm。通过分析,排除了与量子限制效应有关的光发射机制,也排除了与Si和N相关的缺陷产生的复合机制,认为该发光源于氧化后的a-SiN_x介质层中带尾态之间的辐射复合,最有效的激发能量约为介质层的带隙。
李悰许彦鑫何宏平
关键词:光致发光
可靠性仿真在可靠性定量分析中的应用探讨
2013年
现代工程研制中可靠性设计是重要设计活动,通过可靠性设计分析介绍以及可靠性计算机仿真试验的介绍,探讨可靠性仿真试验获得的产品环境参数等数据应用于可靠性设计分析的可能性,通过某单元的实际可靠性仿真试验数据应用于其可靠性定量分析的实例,证明了可靠性仿真试验数据在可靠性定量分析中的价值,拓展了可靠性设计定量分析的数据来源,加快产品可靠性成熟稳定。
何宏平陆培永
关键词:可靠性计算机仿真
共1页<1>
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