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何凌空

作品数:3 被引量:0H指数:0
供职机构:西安理工大学自动化与信息工程学院更多>>
发文基金:陕西省教育厅科研计划项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术机械工程金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇单片
  • 2篇单片机
  • 2篇单片机技术
  • 2篇电路
  • 2篇在线检测
  • 2篇嵌入式
  • 2篇嵌入式计算机
  • 2篇嵌入式计算机...
  • 2篇组合电路
  • 2篇控制台
  • 2篇计算机
  • 2篇计算机系
  • 2篇计算机系统
  • 2篇检测仪
  • 1篇四象限探测器
  • 1篇探测器
  • 1篇自激
  • 1篇高温

机构

  • 3篇西安理工大学

作者

  • 3篇何凌空
  • 2篇白波
  • 2篇邹守刚
  • 2篇吴云峰
  • 2篇周丽华
  • 2篇郝宝童
  • 2篇张桂明
  • 2篇沈阳
  • 2篇刘洪飞
  • 2篇宁书存
  • 2篇满波
  • 2篇郭鲜
  • 2篇高勇
  • 2篇薛蕊
  • 1篇高勇

传媒

  • 1篇西安理工大学...

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2012
  • 1篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
控制台装置检测仪及控制台装置检测方法
本发明是一种控制台装置检测仪及其控制台装置检测方法,是专对某型控制台装置而研制的,采用嵌入式PC104计算机、单片机技术,I/O口扩展技术,继电器阵列技术、被测设备自动识别容错等技术相结合,设计了一种能够直接对控制台装置...
何凌空高勇宁书存吴云峰刘洪飞郝宝童张桂明郭鲜薛蕊满波邹守刚沈阳周丽华白波
四象限光电探测器高温输出自激失效分析
2013年
针对某型激光导引头所用的四象限光电探测器高温环境试验过程中出现的输出自激失效现象,确定了失效物理模型和失效模式,搭建了失效现象复现测试电路,通过半破坏性开封、光学镜检和波谱分析,提出探测器光敏面沟阻隔离区在工艺过程受离子污染,使沟阻隔离区反型是导致四象限光电探测器输出自激的根本原因。根据光电探测器光敏面隔离区表面反型产生输出自激的失效机理,针对电极膜真空蒸镀工艺引入有害离子的具体原因,对电极膜制作工艺路线进行了改进。经生产实践证明,改进后的工艺方法可有效消除该类失效模式的产生。
何凌空高勇
关键词:四象限探测器
控制台装置检测仪及控制台装置检测方法
本发明是一种控制台装置检测仪及其控制台装置检测方法,是专对某型控制台装置而研制的,采用嵌入式PC104计算机、单片机技术,I/O口扩展技术,继电器阵列技术、被测设备自动识别容错等技术相结合,设计了一种能够直接对控制台装置...
何凌空高勇宁书存吴云峰刘洪飞郝宝童张桂明郭鲜薛蕊满波邹守刚沈阳周丽华白波
文献传递
共1页<1>
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