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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控溅射
  • 1篇耐蚀
  • 1篇耐蚀性
  • 1篇耐蚀性能
  • 1篇溅射
  • 1篇溅射制备
  • 1篇磁控
  • 1篇磁控溅射
  • 1篇磁控溅射制备
  • 1篇RU

机构

  • 1篇江苏科技大学
  • 1篇江苏时代华宜...

作者

  • 1篇许俊华
  • 1篇鞠洪博
  • 1篇喻利花
  • 1篇陈彤
  • 1篇贺盛

传媒

  • 1篇材料开发与应...

年份

  • 1篇2016
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
本底真空度对磁控溅射制备Ru薄膜微观结构、膜基结合力及耐蚀性能的影响被引量:1
2016年
采用射频磁控溅射法在功率用半导体散热片Mo上制备了不同本底真空度的Ru薄膜,利用能谱仪、X射线衍射仪、纳米划痕仪及电化学工作站等仪器研究了本底真空度对Ru薄膜化学成分、微观结构、膜基结合力及耐蚀性能的影响。结果表明,随着本底真空度的降低,Ru薄膜中氧含量逐渐降低,当本底真空度为6.0×10-4Pa时,薄膜中氧含量为0%(原子分数);当本底真空度为6.0×10-2Pa时,薄膜两相共存,即hcp-Ru+fcc-RuO_2,此时,薄膜中RuO_2的相对质量分数约为13.7%;随着本底真空度的降低,薄膜中fcc-RuO_2相对质量分数逐渐减少,当本底真空度为6.0×10-4Pa时,薄膜中fcc-RuO_2相消失,为hcp-Ru单一相结构;受RuO_2相的影响,薄膜晶粒尺寸及膜基结合力随本底真空度的降低而逐渐增加。研究表明,在3.5%Na Cl溶液,本底真空度为6.0×10-4Pa的Ru薄膜耐蚀性能优于Mo衬底。
鞠洪博贺盛陈彤陈敏郭丽萍喻利花许俊华
关键词:射频磁控溅射耐蚀性能
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