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杨春虹

作品数：1 被引量：7H指数：1
供职机构：华南理工大学理学院更多>>
发文基金：国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇应力
  • 1篇极限应力
  • 1篇极限应力试验
  • 1篇高加速寿命试...
  • 1篇高加速应力筛...

机构

  • 1篇华南理工大学

作者

  • 1篇李斌
  • 1篇王茂菊
  • 1篇杨春虹

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2006
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
高加速应力试验及极限应力试验综述被引量：7
2006年
介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。
杨春虹李斌来萍王茂菊恩云飞
关键词：极限应力试验高加速寿命试验高加速应力筛选
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共1页<1>
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