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邹文祥

作品数:2 被引量:10H指数:2
供职机构:南昌大学理学院物理系更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇一般工业技术

主题

  • 2篇溅射
  • 2篇溅射气压
  • 2篇溅射制备
  • 2篇ALN薄膜
  • 2篇磁控
  • 1篇直流磁控
  • 1篇透过率
  • 1篇面粗糙度
  • 1篇DC
  • 1篇表面粗糙度
  • 1篇磁控溅射
  • 1篇磁控溅射制备
  • 1篇粗糙度

机构

  • 2篇南昌大学

作者

  • 2篇赖珍荃
  • 2篇邹文祥
  • 2篇刘文兴
  • 1篇李海翼

传媒

  • 1篇南昌大学学报...
  • 1篇光子学报

年份

  • 2篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
直流磁控溅射制备AlN薄膜的结构和表面粗糙度被引量:7
2011年
采用直流磁控反应溅射法,在Si(111)基底上成功制备了多晶六方相AlN薄膜.研究了溅射过程中溅射气压对薄膜结构和表面粗糙度的影响.结果表明:当溅射气压低于0.6 Pa时,薄膜为非晶态,在傅里叶变换红外光谱中,没有明显的吸收峰;当溅射气压不低于0.6 Pa时,薄膜的X射线衍射图中均出现了六方相的AlN(100)、(110)和弱的(002)衍射峰,说明所制备的AlN薄膜为多晶态,在傅里叶变换红外光谱中,在波数为677 cm-1处有明显的吸收峰;随着溅射气压的增大,薄膜表面粗糙度先减小后增大,而薄膜的沉积速率先增大后减少,且沉积速率较大有利于减小薄膜的表面粗糙度;在溅射气压为0.6 Pa时,薄膜具有最小的表面粗糙度和最大的沉积速率.
邹文祥赖珍荃刘文兴
关键词:ALN薄膜溅射气压表面粗糙度
溅射气压对DC磁控溅射制备AlN薄膜的影响被引量:3
2011年
采用DC反应磁控溅射法,在Si(111)和玻璃基底上成功的制备了AlN薄膜。研究溅射过程中溅射气压对薄膜性能的影响。结果表明:薄膜中原子比N/Al接近于1;当溅射气压低于0.6 Pa时,薄膜为非晶态;当溅射气压不低于0.6 Pa时,薄膜的XRD图中均出现了6方相的AlN(100)、(110)和弱的(002)衍射峰,说明所制备的AlN薄膜为多晶态;气压为0.6 Pa时对应衍射峰的半高峰宽较小,薄膜的结晶性较好,随着溅射气压的继续增大,薄膜结晶性变差;在不同的溅射气压(0.6-1.0 Pa)下,AlN薄膜在250-1 000 nm波长范围内的透过率均在82%以上,且随溅射气压的增大略有升高。
赖珍荃邹文祥李海翼刘文兴
关键词:ALN薄膜磁控溅射溅射气压透过率
共1页<1>
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