您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇SIGE_H...
  • 1篇异质结
  • 1篇异质结双极晶...
  • 1篇锗硅
  • 1篇锗硅异质结双...
  • 1篇双极晶体管
  • 1篇模型参数
  • 1篇晶体管

机构

  • 2篇清华大学

作者

  • 2篇周佩明
  • 1篇付军
  • 1篇刘志弘
  • 1篇王玉东
  • 1篇崔杰
  • 1篇张伟
  • 1篇张伟

传媒

  • 1篇微电子学

年份

  • 2篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
SiGe HBT特性表征与模型研究
周佩明
SiGe HBT MEXTRAM模型参数的直接提取
2011年
提出了一种锗硅异质结双极晶体管(SiGe HBT)MEXTRAM集约模型参数的直接提取方法。该方法通过有效地区分各种器件物理效应对器件性能的影响,无需电路仿真器,就能够提取器件的模型参数,简便实用。通过提取实验制备的SiGe HBT器件的整套MEXTRAM模型参数,仿真曲线与测试数据吻合良好,证实了该方法的精确性和有效性。
周佩明付军周天舒李平梁徐向明王玉东张伟张伟崔杰
关键词:锗硅异质结双极晶体管
共1页<1>
聚类工具0