您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 3篇声表面波
  • 2篇声表面波器件
  • 1篇引线
  • 1篇引线键合
  • 1篇相位
  • 1篇相位补偿
  • 1篇化学腐蚀
  • 1篇键合
  • 1篇SAW器件

机构

  • 3篇四川压电与声...

作者

  • 3篇朱瑛
  • 1篇罗毅文
  • 1篇周莉
  • 1篇陈台琼
  • 1篇张龙
  • 1篇陈小兵
  • 1篇吴燕
  • 1篇蒋洪群
  • 1篇刘冬梅
  • 1篇彭悦

传媒

  • 3篇压电与声光

年份

  • 3篇2007
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
声表面波器件内连技术探讨
2007年
声表面波(SAW)器件的内连技术是指将光刻出的压电芯片上的电极与外壳上对应的内引脚连接起来,从而实现电信号的连通。由于内连质量很难通过中间过程的检测完全确定,因此,内连技术成为影响SAW器件性能和可靠性的关键之一。该文介绍了对各种内连技术的原理和工作过程,并比较其不同特点,探讨了适合SAW器件发展要求的技术和方法。
吴燕朱瑛罗毅文刘冬梅蒋洪群
关键词:SAW器件引线键合
1000MHz倾斜阵列压缩器相位补偿技术研究
2007年
采用倾斜阵列压缩器技术制作的声表面波色散延迟线已成功用于许多脉冲压缩系统中。对于这些系统应用来说,延迟线相位响应同理想的二次相位响应的偏离导致了压缩脉冲时域旁瓣电平的恶化。在反射阵列压缩器设计中,采用了一种修正相位误差的方法,该方法是通过调整不同频率反射栅条间金属条带的宽度来实现相位的调节。采用同样的方法,通过在两个倾斜换能器声通道间放置宽度可变的金属条带控制不同频率的延迟变化可实现相位误差的补偿。该文介绍了在倾斜阵列压缩器上进行相位补偿的方法,报道了相位补偿技术在一个L波段倾斜色散压缩器(中心频率1000 MHz,带宽600 MHz)中的成功应用,结果显示均方根相位误差减小到3.9°。
张龙周莉朱瑛陈小兵
关键词:声表面波相位补偿
化学腐蚀对声表面波器件性能影响分析
2007年
Al膜的化学腐蚀直接影响声表面波器件的可靠性,造成器件功能性失效。该文对SAW器件Al膜的化学腐蚀的机理、过程、产生的条件、对器件性能及可靠性的影响进行了分析,并对其进行了试验验证和检测,以及在生产过程中如何加以预防和控制进行了阐述。
朱瑛陈台琼彭悦
关键词:声表面波器件化学腐蚀
共1页<1>
聚类工具0