柳树
- 作品数：3 被引量：9H指数：2
- 供职机构：上海大学通信与信息工程学院上海市特种光纤与光接入网重点实验室更多>>
- 发文基金：上海市教育委员会重点学科基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 磁光调制法测量高双折射光纤拍长的灵敏度分析被引量：1
- 2008年
- 基于法拉第磁光效应,研究在光纤拍长磁光调制法测试系统中,对于给定的磁隙宽度和磁场强度,起偏方式与检偏方式对拍长测试灵敏度的影响.通过理论分析发现,除了目前通常采用的线偏振光沿光纤双折射主轴注入结合渥拉斯顿棱镜45°检偏的测试方式之外,另有两种测试方式也可以得到最大灵敏度,一种是线偏振光45°注入结合渥拉斯顿棱镜沿轴检偏,另一种是圆偏振光注入结合渥拉斯顿棱镜沿轴检偏.最后一种实验方式不需要在入射端精确定位光纤的双折射主轴方向,能简化实验过程,避免角度调节引入的测量误差.
- 柳树石志东包欢欢
- 关键词：拍长磁光调制灵敏度
- 磁光调制法双折射光纤拍长测试技术研究被引量：6
- 2008年
- 研究了光纤拍长磁光调制法测试系统中,对于给定的磁隙宽度和磁场强度,起偏方式与检偏方式对拍长测试灵敏度的影响。通过理论分析与实验研究,发现有三种测试方式均能得到最大灵敏度:1)入射线偏振光的偏振方向与光纤双折射主轴夹角θ为0°或90°,同时Wollaston棱镜的两个检偏主轴与保偏光纤的双折射主轴夹角γ为45°;2)入射线偏振光θ=45°,同时γ=0°或90°;3)入射光为圆偏振光,同时γ=0°或90°。三种情况下的测试灵敏度基本相等,但是第三种实验方式不需要在入射端精确定位光纤的双折射主轴方向,简化了实验过程,并可避免角度调节所引入的测量误差。理论分析与实验数据基本一致。
- 石志东包欢欢柳树
- 关键词：双折射光纤拍长磁光调制
- 背向切割法测量高双折射多孔光纤拍长被引量：2
- 2008年
- 基于背向切割方法,建立了测量高双折射光纤拍长的实验系统;采用最小二乘拟合法进行数据处理,放宽了对切割长度的限制,扩大了拍长的测量范围,使其能较好地适用于高双折射多孔光纤的拍长测量。
- 石志东包欢欢柳树
- 关键词：拍长相位差
