张玥
- 作品数：2 被引量：12H指数：2
- 供职机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院北京市嵌入式系统重点实验室更多>>
- 发文基金：博士科研启动基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 集成电路可测性设计IO复用方法被引量：8
- 2011年
- 超大规模集成电路特征尺寸逐步缩小的发展过程中,芯片面积是制约芯片成本的最重要因素之一,也是直接影响半导体产品市场竞争力的最重要因素之一。本文介绍了将所有可测性设计(DFT)的输入输出端口(IO)与各种类型的正常功能工作模式的IO复用的方法,从而达到减少IO并最终减小芯片面积的目的。介绍了输入信号和输出信号分别在单向端口IO和双向端口IO中复用的方法。然后,以一款经过0.18μm逻辑工艺流片验证的flash存储器控制芯片为例,对比了采用IO复用方法前后芯片的利用率和面积,证明了方案的可行性和有效性。
- 张玥万培元林平分
- 关键词：输入输出端口复用可测性设计
- 超大规模集成电路中基于OCV的时序收敛方法被引量：4
- 2009年
- 当芯片设计进入深亚微米,片上工艺偏差(OCV)造成的时序不确定性,成为超大规模集成电路时序收敛中的关键问题,单纯使用传统时序分析方法,已不能完全达到时序收敛的要求。文中首先介绍了静态时序分析方法,阐述了深亚微米下OCV分析对时序收敛的重要性,并提出对OCV问题建模和分析的方法。最后通过一个具体的设计实例,运用基于OCV的时序分析方法达到时序收敛。
- 陈祺林平分张玥
- 关键词：深亚微米
