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芦浩

作品数:3 被引量:14H指数:2
供职机构:中国民航大学更多>>
发文基金:天津市自然科学基金中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信航空宇航科学技术自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 3篇FPGA
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇动态重配置
  • 1篇重配置
  • 1篇总线
  • 1篇抗辐射
  • 1篇机载
  • 1篇机载电子
  • 1篇航空
  • 1篇航空总线
  • 1篇飞行
  • 1篇飞行实验
  • 1篇ARINC4...

机构

  • 3篇中国民航大学

作者

  • 3篇芦浩
  • 2篇王鹏
  • 2篇薛茜男
  • 1篇李颖

传媒

  • 1篇电子技术应用
  • 1篇强激光与粒子...

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 1篇2016
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于动态重配置的航空总线单粒子翻转效应测试系统研究
随着电子技术和半导体工业的发展,机载电子设备日益增多,以静态随机存取存储器(SRAM,Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable Gate Array)为代表...
芦浩
关键词:动态重配置FPGAARINC429
文献传递
航空高度FPGA单粒子翻转飞行实验及失效分析被引量:9
2016年
随着微电子工艺的发展,小尺寸、高密度及低电压的器件越来越多地应用于航空电子设备。许多科研人员发现高层大气及外太空的带电粒子带来的粒子辐射会对航空电子器件产生严重的影响。基于民用航空局方的要求,鉴于机载设备对单粒子翻转效应的隐患以及航空机载设备国产化的迫切需求,开展FPGA器件用于机载电子设备可能遭遇的单粒子翻转效应的风险问题研究。分析了主流FPGA在航空飞行高度的飞行实验数据,进一步论证其是否满足民用航空的需求。大量数据的分析结果证明,以当下主流FPGA芯片的工艺尺寸、工作电压的条件,单粒子翻转效应是一个不容忽视的问题。即便是航空飞行高度甚至是地面高度,FPGA芯片因单粒子翻转导致失效也是无法满足民用航空设备的安全性要求。
薛茜男张道阳李颖芦浩王鹏
关键词:单粒子翻转机载电子抗辐射飞行实验
基于分区测试的翻转故障注入方法研究被引量:3
2017年
针对航空器中SRAM型FPGA的单粒子翻转效应故障注入研究越来越重要的趋势,提出基于分区测试的翻转故障注入方法。根据FPGA配置帧的结构特点,对其进行分区测试,分析配置存储器中的敏感位,找到FPGA配置帧中最为敏感的区域。基于动态可重构技术设计了故障注入测试系统,并进行了试验验证。测试结果表明,该方法具有较好的准确率,且能够大大提高翻转故障注入测试的测试效率。
王鹏张道阳芦浩薛茜男
关键词:FPGA
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