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王震
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26
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H指数:1
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中国工程物理研究院激光聚变研究中心
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合作作者
卫耀伟
中国工程物理研究院激光聚变研究...
吴倩
中国工程物理研究院激光聚变研究...
罗晋
中国工程物理研究院激光聚变研究...
潘峰
中国工程物理研究院激光聚变研究...
张飞
中国工程物理研究院激光聚变研究...
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薄膜品质检测方法、装置、电子设备及存储介质
本申请提供涉及一种薄膜品质检测方法、装置、电子设备及存储介质,涉及薄膜品质控制领域。上述薄膜品质检测方法包括:根据薄膜样品的物理数学模型和所述薄膜样品经椭偏检测获得的椭偏检测曲线,以薄膜材料的本征折射率色散表达式为特征参...
胡建平
刘民才
王震
吴倩
张飞
卫耀伟
王健
文献传递
大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法
本申请公开一种大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法。大口径光学元件清洗装置,包括夹持机构、翻转架、翻转驱动部和竖向旋转部。夹持机构用于夹持光学元件,夹持机构可转动地设于翻转架上,翻转驱动部设于翻转架且驱动夹持...
王震
许乔
卫耀伟
王健
李树刚
刘民才
张飞
唐明
吴倩
罗晋
罗振飞
周永勤
程建国
白友民
文献传递
一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置
本申请提供一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置,应用于对反向行星式旋转镀膜工艺中遮蔽板的形状进行确定,所述方法包括:获取待镀膜元件上多个待镀膜点的初始膜厚,以及获取待镀膜元件的尺寸和镀膜设备的尺寸;根据所述待镀膜元件的尺寸...
罗晋
张飞
卫耀伟
李树刚
李海波
李洁
唐明
王震
吴倩
潘峰
罗振飞
胡建平
张清华
刘民才
王健
文献传递
一种元件激光损伤测量方法及装置
本发明提供一种元件激光损伤测量方法及装置。测量时,对每一个预设测试点采用基本相同的能量和能量密度的激光脉冲进行逐次多发次辐照,并实时监测测试点的光学图像以判断该测试点是否产生功能性损伤,同时在线获取每一次辐照时的激光能量...
张哲
潘峰
刘志超
郑轶
汤鹏
唐明
罗晋
吴倩
卫耀伟
张飞
王震
文献传递
制作光学薄膜的方法、膜系结构、镀膜方法、激光反射镜
一种制作光学薄膜的方法、膜系结构、镀膜方法、激光反射镜,属于光学设备领域。该方法包括:在基板之上,制作满足光谱指标的第一膜堆;在第一膜堆之上,制作满足面形指标的第二膜堆;在所述第二膜堆之上,制作满足损伤指标的第三膜堆。通...
卫耀伟
王震
张飞
李树刚
唐明
吴倩
潘峰
罗晋
罗振飞
刘民才
张清华
王健
许乔
文献传递
一种元件激光损伤测量方法及装置
本发明提供一种元件激光损伤测量方法及装置。测量时,对每一个预设测试点采用基本相同的能量和能量密度的激光脉冲进行逐次多发次辐照,并实时监测测试点的光学图像以判断该测试点是否产生功能性损伤,同时在线获取每一次辐照时的激光能量...
张哲
潘峰
刘志超
郑轶
汤鹏
唐明
罗晋
吴倩
卫耀伟
张飞
王震
一种变角度透过率测量装置、测量系统及测量方法
本发明涉及光谱透过率测量技术领域,具体公开了一种变角度透过率测量装置、测量系统及测量方法,测量装置包括光阑、光陷阱以及转动组件,其中:转动组件包括电机,以及与电机输出端传动连接的旋转台;旋转台位于光陷阱的中心轴线上;光陷...
卫耀伟
王震
张清华
吴倩
张飞
李树刚
罗振飞
吴悦
罗晋
王健
许乔
一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置
本申请提供一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置,应用于对反向行星式旋转镀膜工艺中遮蔽板的形状进行确定,所述方法包括:获取待镀膜元件上多个待镀膜点的初始膜厚,以及获取待镀膜元件的尺寸和镀膜设备的尺寸;根据所述待镀膜元件的尺寸...
罗晋
张飞
卫耀伟
李树刚
李海波
李洁
唐明
王震
吴倩
潘峰
罗振飞
胡建平
张清华
刘民才
王健
一种光学元件全口径镀膜装置及其方法
本发明适用于光学元件镀膜技术领域,提供了一种光学元件全口径镀膜装置及其方法,该镀膜装置包括夹持工装主体、夹持组件、侧面板、至少一个顶紧组件;所述夹持工装主体包括基板、至少两个限位块,所述基板上设置有容纳孔,所述限位块对称...
王震
卫耀伟
许乔
张飞
吴倩
罗晋
李树刚
罗振飞
唐明
刘民才
文献传递
渐变折射率薄膜制备参数获取方法、制备方法及滤光片
本发明提供了一种渐变折射率薄膜制备参数获取方法、制备方法及滤光片,属于薄膜制备工艺技术领域。所述制备参数获取方法包括:获取待制备的渐变折射率薄膜的制备数据,其中,所述制备数据包括所述渐变折射率薄膜的每个膜层的折射率和膜层...
卫耀伟
刘浩
蔡清元
王震
潘峰
张哲
刘志超
吴倩
罗晋
欧阳升
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