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高通

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：装备指挥技术学院更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇软件过程改进

机构

  • 1篇装备指挥技术...

作者

  • 1篇焦彦平
  • 1篇龚波
  • 1篇高通

传媒

  • 1篇装备指挥技术...

年份

  • 1篇2011
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排序方式：
一种软件缺陷排除成本预测方法被引量：1
2011年
基于缺陷分析来预测缺陷排除成本,有利于分析软件过程质量、平衡软件成本和控制开发进度。传统上,一般采用单个缺陷排除成本的平均值乘以缺陷数的方法,来预测缺陷排除总成本,这种方法忽略了不同类型的缺陷排除成本差异,导致较大的成本预测偏差。论文提供了另外一种成本预测方法：基于项目历史数据,拟制软件开发阶段不同缺陷类型的排除成本矩阵,来预测项目的缺陷排除成本。改进的成本预测方法能够较好地弥补传统方法的不足,可得到较为准确的缺陷预测数据。
焦彦平高通龚波
关键词：软件过程改进
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