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潘英

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:华北电力大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇电磁
  • 1篇电磁干扰
  • 1篇电子器件
  • 1篇电子设备
  • 1篇脉冲
  • 1篇金属
  • 1篇高斯
  • 1篇高斯脉冲

机构

  • 2篇华北电力大学

作者

  • 2篇潘英
  • 1篇范杰清
  • 1篇郝建红

传媒

  • 1篇河北师范大学...

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2017
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
随机耦合模型在多种场景下的应用研究
随着电磁环境的日益复杂,高功率微波(High Power Microwave,HPM)作为电磁干扰源已广泛存在于实际工程当中。为了给电子设备提供良好的电磁环境,电子设备外部通常加装有金属屏蔽腔体,以减少外部电磁波对电子设...
潘英
关键词:电子设备电磁干扰
文献传递
随机耦合模型在复杂腔体内电子器件损伤概率研究中的应用被引量:1
2017年
针对高功率微波脉冲参数对复杂腔体内器件损伤概率的影响,以TTL门电路为研究对象,利用随机耦合模型对高斯脉冲干扰下复杂腔体内电子器件的损伤概率进行了分析和预测,重点计算分析了高斯脉冲的脉冲上升沿、脉冲间隔、脉冲幅值及脉冲个数对复杂腔体内电子器件损伤概率的影响.计算结果表明,电子器件的损伤概率随脉冲上升沿、脉冲幅值、脉冲个数的增大而增大,随脉冲间隔的增大而减小.该方法的研究为大规模不规则电子系统中电子器件的电磁兼容、电磁效应评估、电磁防护及电磁加固等工作提供了新的指导.
郝建红潘英范杰清
关键词:电子器件高斯脉冲
共1页<1>
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