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文献类型

  • 6篇国内会议论文

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 4篇晶体管
  • 1篇低噪
  • 1篇低噪声
  • 1篇电磁
  • 1篇电磁脉冲
  • 1篇信号
  • 1篇信号源
  • 1篇试验分析
  • 1篇品质因数
  • 1篇热阻
  • 1篇自激
  • 1篇自激振荡
  • 1篇微波放大器
  • 1篇微波功率
  • 1篇微波功率晶体...
  • 1篇微波器件
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性分析
  • 1篇击穿
  • 1篇剪切力

机构

  • 6篇中国电子科技...

作者

  • 6篇刘红兵
  • 3篇许洋
  • 3篇程春红
  • 1篇杨光晖
  • 1篇何宇新
  • 1篇王于辉
  • 1篇高颖

传媒

  • 2篇2003第十...
  • 2篇第十二届全国...
  • 1篇2005第十...
  • 1篇第十一届全国...

年份

  • 2篇2007
  • 2篇2005
  • 2篇2003
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
老化用微波功率信号源的研制
本文以L波段信号源为例,研究探讨了微波器件和放大器射频老化时常用的微波脉冲信号源的设计与制做,并获得了实用结果。
杨光晖何宇新刘红兵
关键词:微波器件微波放大器
文献传递
一种微波功率晶体管的热失效分析
就一例微波功率晶体管热失效,讲述了通过分析试验,确定造成热失效原因的过程,分析了失效机理,提出了相应的预防措施。
许洋刘红兵
关键词:微波功率晶体管热阻剪切力
文献传递
晶体管热的产生与散失
晶体管工作时会产生热量,热量会导致结温的升高,结温的升高超过一定限度会引起晶体管的参数不稳定,工作寿命的缩短,甚至热奔脱而烧毁。研究晶体管的热量的产生与散失,最大限度的降低其结温, 对晶体管的使用有着十分重要的意义,本文...
刘红兵程春红许洋
文献传递
电磁脉冲损伤的试验分析
本文通过对某型号高频低噪声晶体管失效的分析,研究了器件受到电磁脉冲损伤时的模式和机理,并用试验模拟了器件的损伤过程,最后指出了预防此类损伤应采取的一些措施,以及提高器件抗电磁脉冲的能力和方法.
高颖刘红兵王于辉
关键词:电磁脉冲超高频低噪声击穿试验分析
文献传递
晶体管老化时自激振荡的产生及消除
晶体管在进行功率老化时,容易产生自激振荡,本文叙述了自激振荡的类型及产生原因,自激振荡的危害,如何进行检查判断,最后讲述了消除的方法.
刘红兵程春红
关键词:自激振荡品质因数晶体管
文献传递
晶体管热的产生与散失
晶体管工作时会产生热量,热量会导致结温的升高,结温的升高超过一定限度会引起晶体管的参数不稳定,工作寿命的缩短,甚至热奔脱而烧毁.研究晶体管的热量的产生与散失,最大限度的降低其结温,对晶体管的使用有着十分重要的意义,本文对...
刘红兵程春红许洋
关键词:半导体器件可靠性分析
文献传递
共1页<1>
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