复旦大学现代物理研究所应用离子束物理教育部重点实验室
- 作品数：34 被引量：119H指数：6
- 相关作者：霍裕昆陆福全黄永义贺勉鸿要华更多>>
- 相关机构：中国原子能科学研究院核物理研究所上海中医药大学针灸推拿学院中国工程物理研究院核物理与化学研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金教育部“优秀青年教师资助计划”中国科学院知识创新工程更多>>
- 相关领域：理学核科学技术化学工程医药卫生更多>>
- 基于上海EBIT装置的MEVVA源离子注入
- MEVVA离子源是目前上海EBIT装置上用于低价态初始离子注入的外置离子源。为了提高MEVVA源的离子注入效率,本文做了以下两方面的工作。首先提高MEVVA源自身的工作效率。通过改进对其触发极结构,确保MEVVA源的阴极...
- 傅云清魏宝仁邹亚明
- 复旦大学新核微探针——系统建设与束流光学计算被引量：1
- 2002年
- 微束是由 9SDH 2串列加速器引出的高能离子 ,经过三元四极透镜聚焦后 ,得到线度为 μm量级的离子束 ;由多个探测器构成的探测系统 ,可进行PIXE ,RBS ,STIM等分析 ,便于核微探针系统开展与材料、环境、生物等学科交叉的研究 .为了获得尽可能小的束径 ,根据新核微探针系统的具体几何条件 ,进行了束流光学的模拟计算 ,找到了对不同能量、不同离子进行聚焦的合适的四极透镜参数 ,其结果直接指导新核微探针系统的安装和调试 .
- 刘波贺勉鸿孙民德石贤峰孙传琛沈皓宓詠
- 关键词：核分析技术微区分析
- 多层膜样品的背散射/沟道、溅射剥层/背散射和二次离子质谱分析
- 2002年
- 用背散射 /沟道、溅射剥层 /背散射和二次离子质谱方法分析了分子束外延生长的Si/GexSi1-x多层膜 .由 2MeV 4He+ 离子背散射 /沟道分析 ,确定了外延生长薄膜的厚度、组分和晶格结构的完美性 ;用低能Ar+ 离子溅射剥层 ,减薄样品外延层厚度后 ,再做背散射分析 ,可获得有关较深层薄膜与基体界面和溅射剥层的信息 ;
- 赵国庆姜蕾宋玲根杨宇孙耀德周筑颖
- 关键词：多层膜背散射沟道
- 负离子光致脱附实验紫外激光光路设计及测试
- 2004年
- 本文为开展紫外区负离子激光光致脱附实验研究 ,设计了一套紫外激光光路系统 ,并对光路进行了性能测试。测试结果表明此光路能够满足负离子激光光致脱附实验的基本要求。
- 张雪梅杨洵黄永义吴师民陆福全杨福家
- 基于兰州重离子冷却储存环的Sn35+离子双电子复合研究
- 等离子体是宇宙中绝大部分物质的存在形式，对等离子体性质的研究涉及到原子分子物理、天体物理、化学和材料科学等多个学科.双电子复合过程(DR)则是等离子体内部电子离子复合的主要过程，对动态有限密度等离子体的能级布局和电离平衡...
- 许鑫汪书兴黄忠魁汶伟强汪寒冰啜晓亚豆丽君徐天衡陈重阳马新文朱林繁
- 关键词：双电子复合高电荷态离子
- 负离子光致脱附实验中基于飞行时间法的电子谱仪的研制
- 2004年
- 负离子光致脱附电子谱的研究是目前国际上比较热门的课题。在本文中将介绍基于飞行时间法的电子能谱仪的研制工作。基于此谱仪的特点 ,配合合适的电场 ,可以转换成为探测立体角为 4π的电子动量谱仪。
- 黄永义张雪梅陆福全杨福家
- 吸气剂材料的吸氢动力学理论被引量：7
- 2004年
- 以非蒸散型吸气剂材料为研究对象,提出了一种吸氢动力学的基本模型。氢的吸入过程将由表面吸附、表层渗透和体内扩散3步组成。通常情况下,必须对它们的动力学方程同时求解。在氢通过化学解离吸附进入体内(亚表面层)的吸入过程中,表面势垒对氢从表面渗透至体内的障碍作用不可忽略。在低的体氢浓度条件下,采用晶格 气体模型描述体扩散过程,并讨论了影响吸气速率的因素。
- 刘超卓施立群徐世林罗顺忠龙兴贵周筑颖
- 关键词：度条件解离吸附吸气剂体模
- 氘在碳钨共沉积层中的滞留行为研究被引量：3
- 2013年
- 运用射频磁控溅射方法,在氘氩混合气氛中制备了含氘碳钨共沉积薄膜.利用离子束分析方法[卢瑟福背散射(RBS)和弹性反冲(ERD)]对薄膜样品的厚度、成分、氘含量等进行了分析;利用拉曼光谱和扫描电子显微镜(SEM),分别分析了薄膜的结构和表面形态.离子束分析发现,氘原子更易被碳原子俘获位俘获,并且氘含量会随着沉积温度的升高而降低;其他镀膜条件固定的情况下,不同混合气体压强下薄膜样品中的氘浓度在5.0 Pa处有一个峰值;拉曼光谱分析显示,沉积温度从室温升高到725 K时,碳钨共沉积层中的类石墨化成分增加,同时,非晶化的程度也加剧;扫描电子显微镜图像表明,随着温度的升高薄膜表面被腐蚀的痕迹消失,但是由于应力的改变表面出现了多处的凸起.
- 张文钊唐兴华李嘉庆施立群
- 关键词：射频磁控溅射
- X射线弯晶谱仪的几何因数对色散角的影响被引量：4
- 2004年
- 在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下 ,本文成功地应用了柱坐标系统来进行定量的分析在弯晶谱仪中由于晶体的几何结构和光源的大小对色散角的影响。为了更具普适性 ,分析了Johann晶体谱仪和点光源 ,同时还有球面晶体谱仪和Johanson晶体谱仪。
- 卢向东欧伟英
- 关键词：弯晶谱仪柱坐标
- Ag^-与He原子碰撞的单电子脱附截面的实验研究
- 2001年
- 对 Ag-与 He原子碰撞的单电子脱附过程进行了实验研究 ,使用增长率方法在 5～1 0 ke V能量范围内对脱附截面进行了测量 ,得到在 2 0 ke V时的典型值为 6.6× 1 0 -16cm2 。实验结果的不确定度约为 8%
- 黎光武金正宇张雪梅吴师民贺勉鸿陆福全彭先觉杨福家
- 关键词：HE原子氦原子
