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杨晓月

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：同济大学更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 4篇荧光
  • 3篇荧光强度
  • 2篇多层膜
  • 2篇荧光谱
  • 2篇散射
  • 2篇散射振幅
  • 2篇自吸收
  • 2篇结构参数
  • 2篇光谱
  • 2篇光学
  • 2篇光学薄膜
  • 2篇反射率
  • 2篇仿真性
  • 1篇数据调整
  • 1篇强度计算
  • 1篇光谱数据
  • 1篇层膜

机构

  • 4篇同济大学

作者

  • 4篇李文斌
  • 4篇杨晓月
  • 2篇王占山

年份

  • 2篇2016
  • 2篇2014
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种荧光EXAFS数据的自吸收效应修正处理方法
本发明涉及一种荧光EXAFS数据的自吸收效应修正处理方法，包括以下步骤：1)获取待测样品的结构参数及待测样品对应元素孤立原子的散射振幅因子和散射振幅；2)计算孤立原子的折射因子和吸收因子；3)根据X射线波段折射率表达式计...
李文斌杨晓月
文献传递
光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法
本发明涉及一种光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法，包括以下步骤：1)数据采集模块采集光学薄膜参数，并将其传输到数据调整模块；2)数据调整模块对接收到的数据进行调整后，传输给数据处理模块；3)数据处理模块根据...
李文斌杨晓月王占山
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一种荧光EXAFS数据的自吸收效应修正处理方法
本发明涉及一种荧光EXAFS数据的自吸收效应修正处理方法，包括以下步骤：1)获取待测样品的结构参数及待测样品对应元素孤立原子的散射振幅因子和散射振幅；2)计算孤立原子的折射因子和吸收因子；3)根据X射线波段折射率表达式计...
李文斌杨晓月
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光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法
本发明涉及一种光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法，包括以下步骤：1)数据采集模块采集光学薄膜参数，并将其传输到数据调整模块；2)数据调整模块对接收到的数据进行调整后，传输给数据处理模块；3)数据处理模块根据...
李文斌杨晓月王占山
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