肖尧 作品数:16 被引量:19 H指数:4 供职机构: 中国科学院新疆理化技术研究所 更多>> 发文基金: 国家自然科学基金 更多>> 相关领域: 电子电信 自动化与计算机技术 理学 一般工业技术 更多>>
一种用于单粒子翻转的故障模拟系统及分析方法 本发明涉及一种用于大规模集成电路SRAM型FPGA中单粒子翻转的故障模拟系统及分析方法,包括上位计算机和控制板,所述控制板包括故障注入模块、故障检测模块、故障分析模块。本发明提供了一种使用灵活、成本低廉、具有模拟精度高、... 王忠明 姚志斌 郭红霞 赵雯 丁李利 王艳萍 肖尧 王园明 张科营 王伟文献传递 锗硅异质结晶体管单粒子效应激光微束模拟 被引量:5 2013年 对国产锗硅异质结双极晶体管(SiGe HBT)进行了单粒子效应激光微束辐照试验,观测SiGeHBT单粒子效应的敏感区域,测试不同外加电压和不同激光能量下SiGe HBT集电极瞬变电流和电荷收集情况,并结合器件结构对试验结果进行分析。试验结果表明:国产SiGe HBT位于集电极/衬底结内的区域对单粒子效应敏感,波长为1064nm的激光在能量约为1.5nJ时诱发SiGe HBT单粒子效应,引起电流瞬变。入射激光能量增强,电流脉冲增大,电荷收集量增加;外加电压增大,电流脉冲的波峰增大;SiGe HBT的单粒子效应与外加电压大小和入射激光能量都相关,电压主要影响瞬变电流的峰值,而电荷收集量主要依赖于入射激光能量。 张晋新 郭红霞 文林 郭旗 崔江维 范雪 肖尧 席善斌 王信 邓伟关键词:锗硅异质结双极晶体管 单粒子效应 激光微束 电荷收集 一种存储器单粒子翻转效应的检测系统及方法 本发明涉及一种存储器单粒子翻转效应的检测系统及方法,在回读存储节点逻辑状态的过程中,采用两次或两次以上的回读验证方法,通过前后两次回读数据的比较,判断存储节点状态是否处于受干扰状态,如果是,则再次回读,直到存储状态稳定或... 郭晓强 张凤祁 陈伟 郭红霞 罗尹虹 赵雯 丁李利 肖尧累积剂量影响静态随机存储器单粒子效应敏感性研究 被引量:2 2014年 本文利用60Coγ源和兰州重离子加速器,开展不同累积剂量下,静态随机存储器(static random access memory,SRAM)单粒子效应敏感性研究,获取不同累积剂量下SRAM器件单粒子效应敏感性的变化趋势,分析其辐照损伤机理.研究表明,随着累积剂量的增加,SRAM器件漏电流增大,影响存储单元低电平保持电压、高电平下降时间等参数,导致"反印记效应".研究结果为空间辐射环境中宇航器件的可靠性分析提供技术支持. 肖尧 郭红霞 张凤祁 赵雯 王燕萍 丁李利 范雪 罗尹虹 张科营关键词:单粒子效应 静态随机存储器 一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法 本发明涉及一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法,包括以下步骤:1)制作单层结构复合材料:2)制作多层结构复合材料:3)测量电子束在复合材料中的透射系数:4)采用蒙特卡洛粒子输运方法模拟计算材料的理论透射系数:5)修正电... 郭红霞 陈伟 郭旗 何承发 罗尹虹 文林 王玲 张凤祁 赵雯 肖尧文献传递 一种针对高频电路的单粒子瞬态效应注入仿真方法 一种针对高频电路的单粒子瞬态效应注入仿真方法通过建立被重离子入射的晶体管的器件模型、求解半导体器件数值计算模型方程以获取器件模型的I-V特性曲线、开展器件模型的I-V特性校准、对半导体器件数值计算模型添加重离子导致的单粒... 郭红霞 赵雯 罗尹虹 张凤祁 王燕萍 王忠明 王园明 张科营 肖尧 王伟文献传递 脉宽调制器单粒子效应测试系统研制 本文在分析脉宽调制器(PWM)单粒子效应主要失效模式的基础上,研制了具备频率异常测试、占空比异常测试和参考电压测试功能的PWM单粒子效应测试系统,并在中国原子能科学研究院HI-13串列加速器上开展了单粒子效应试验.试验结... 赵雯 郭红霞 张凤祁 郭晓强 罗尹虹 王燕萍 肖尧关键词:脉宽调制器 优化设计 性能表征 文献传递 累积辐照影响静态随机存储器单粒子翻转敏感性的仿真研究 被引量:4 2013年 基于解析分析对比了大尺寸与深亚微米尺度下静态随机存取存储器(static random access memory,SRAM)单元单粒子翻转敏感性的表征值及引入累积辐照后的变化趋势.同时借助仿真模拟计算了0.18μm工艺对应的六管SRAM单元在对应不同累积剂量情况下,离子分别入射不同中心单管时的电学响应变化,计算结果与解析分析所得推论相一致,即只有当累积辐照阶段与单粒子作用阶段存储相反数值时,SRAM单元的单粒子翻转敏感性才会增强. 丁李利 郭红霞 陈伟 闫逸华 肖尧 范如玉关键词:单粒子翻转 静态随机存储器 一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法 本发明涉及一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法,包括上位计算机、下位控制器、SEU测试电路、电流测试电路、闭锁保护电路及电源模块。本发明提供了一种可以单粒子翻转截面及闭锁截面同时获取,减少了实验周期,节约实验成本... 姚志斌 张凤祁 郭红霞 何宝平 罗尹虹 赵雯 丁李利 王艳萍 肖尧 王园明 张科营 王伟文献传递 一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法 本发明涉及一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法,包括上位计算机、下位控制器、SEU测试电路、电流测试电路、闭锁保护电路及电源模块。本发明提供了一种可以单粒子翻转截面及闭锁截面同时获取,减少了实验周期,节约实验成本... 姚志斌 张凤祁 郭红霞 何宝平 罗尹虹 赵雯 丁李利 王艳萍 肖尧 王园明 张科营 王伟文献传递