胡净
- 作品数：7 被引量：5H指数：1
- 供职机构：西安电子科技大学更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程更多>>
- 厚膜电阻器的噪声及其应用被引量：1
- 2003年
- 本文综述了厚膜电阻器中噪声的种类、产生部位及机理的研究,重点介绍了厚膜电阻器的导电机制及1/f噪声的模型,并详细讨论了测量厚膜电阻器中1/f噪声的测量系统。在以上讨论的基础上,对厚膜电阻器的低噪声化进行了简单的分析,展望了噪声作为可靠性表征参量的前景。
- 胡净杜磊庄奕琪
- 关键词：厚膜电阻器噪声导电机制
- 噪声作为MCM质量与可靠性的诊断与检测工具
- 电噪声是电路系统和电子元器件工作过程中普遍存在的现象.以前人们对噪声研究的目的是为了降低元器件和电路中的噪声.后来通过对噪声产生机理的深入研究,发现噪声对于影响元器件和电路质量和可靠性的缺陷极为敏感,因而近年来开始应用噪...
- 杜磊庄奕琪胡净
- 关键词：噪声
- 文献传递
- 深亚微米CMOS集成电路抗热载流子效应设计被引量：3
- 2003年
- 热载流子效应(HCE)、电介质击穿、静电放电,以及电迁移等失效机理,已经对VLSI电路的长期可靠性造成了极大的威胁。其中,热载流子效应是最主要的失效机理之一。影响CMOS电路热载流子效应的因素有:晶体管的几何尺寸、开关频率、负载电容、输入速率以及晶体管在电路中的位置。通过对这些因素的研究,提出了CMOS电路热载流子可靠性设计的通用准则。
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- 关键词：深亚微米CMOS集成电路热载流子效应
- 厚膜电阻器的噪声及其测量技术
- 本文论述了厚膜电阻器中噪声的特点、种类和产生机理,重点介绍了厚膜电阻器噪声测量系统和技术以及分析方法.在以上讨论的基础上,分析了厚膜电阻器中的噪声与结构的关系以及低噪声化技术.
- 胡净杜磊庄奕琪
- 关键词：厚膜电阻器可靠性射频电路
- 文献传递
- 深亚微米CMOS IC抗噪声ESD保护电路的设计被引量：1
- 2003年
- CMOS工艺技术缩小到深亚微米阶段,电路的静电(ESD)保护能力受到了更大的限制。因此,需要采取更加有效并且可靠的静电放电保护设计。文章提出了一种新型的ESD保护电路,以LVTSCR结构为基础,结合栅耦合技术以及抗噪声干扰技术。这种新型电路即使被意外触发也不会引起闩锁效应,提高了ESD保护电路的可靠性,实现了全芯片保护。
- 陈曦庄奕琪罗宏伟胡净韩孝勇
- 关键词：深亚微米CMOS噪声ESD保护电路静电保护集成电路
