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王立建

作品数:6 被引量:18H指数:3
供职机构:河北工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金河北省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 2篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇电池
  • 3篇太阳电池
  • 2篇单晶
  • 2篇氮化硅
  • 2篇多晶
  • 2篇多晶硅
  • 2篇氧沉淀
  • 2篇硅单晶
  • 2篇硅片
  • 2篇RTP
  • 2篇表面织构
  • 2篇AS
  • 1篇氮化
  • 1篇氮化硅薄膜
  • 1篇多晶硅太阳电...
  • 1篇少子寿命
  • 1篇硅薄膜
  • 1篇硅太阳电池

机构

  • 6篇河北工业大学

作者

  • 6篇王立建
  • 5篇郝秋艳
  • 5篇刘彩池
  • 2篇赵丽伟
  • 2篇孙海知
  • 2篇赵彦桥
  • 2篇陈玉武
  • 2篇孙世龙
  • 2篇滕晓云
  • 2篇石义情
  • 2篇赵建国
  • 1篇吴丹

传媒

  • 2篇光电子.激光
  • 1篇Journa...
  • 1篇材料热处理学...
  • 1篇第十四届全国...

年份

  • 2篇2008
  • 2篇2007
  • 1篇2006
  • 1篇2005
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
酸腐多晶硅表面织构及氮化硅薄膜快速热处理性能的研究
太阳电池发展的主要趋势是提高转换效率和降低成本。多晶硅太阳电池是未来最有发展潜力的太阳电池之一。为了提高多晶硅太阳电池的转换效率,降低表面的光反射,增加光的有效吸收是十分必要的。如何获得好的表面织构化工艺是目前多晶硅太阳...
王立建
关键词:太阳电池氮化硅薄膜
文献传递
多晶硅太阳电池酸腐表面织构的研究被引量:8
2007年
采用酸腐多晶Si片的方法,获得了各向同性的表面织构。酸腐蚀液选取HF-HNO3混合溶液,并用H3PO4进行改良。分别利用扫描电镜(SEM)和光谱响应系统,分析了腐蚀后多晶Si片的表面形貌和反射率。结果表明,酸腐多晶Si表面分布均匀的蚯蚓状腐蚀坑,反射率很低,在等离子增强化学气相沉积(PECVD)Si3N4减反射膜后,反射率大大下降。
王立建刘彩池孙海知郝秋艳
关键词:表面织构太阳电池
快速热处理对重掺As硅单晶中氧沉淀的影响
2006年
对重掺As硅片进行快速热处理,发现重掺As硅片中氧沉淀行为与快速热处理温度、保温时间和降温速度有很大的关系.随着快速热处理温度的升高、降温速度的增大和保温时间的延长,氧沉淀的密度增大.最后对影响的机理进行了讨论.
孙世龙刘彩池郝秋艳滕晓云赵丽伟赵彦桥王立建石义情
关键词:氧沉淀
快速热处理对PECVD氮化硅薄膜性能的影响被引量:3
2008年
利用PECVD在硅片上沉积了氮化硅(SiNx)薄膜,将沉积膜后的样品放在N2气氛中进行快速热处理(RTP),研究了不同快速热处理对PECVD氮化硅薄膜性能的影响。采用原子力显微镜(AFM)检测薄膜的表面形貌,利用椭圆偏振仪测量样品膜厚和折射率,利用准稳态光电导衰减法(QSSPCD)测量样品的少子寿命。实验结果表明随着RTP温度的升高,薄膜厚度迅速减小,折射率迅速增大;低于500℃热处理时,少子寿命基本不变;高于500℃热处理时,随着温度的升高,少子寿命急剧下降。氮化硅薄膜经热处理后反射率基本不变。
陈玉武郝秋艳刘彩池王立建孙海知赵建国
关键词:氮化硅RTP太阳电池
快速热处理对铸造多晶硅性能的影响被引量:5
2008年
采用微波光电导衰减法(μ-PCD)、扫描电镜等测试技术,研究了快速热处理(RTP)对铸造多晶硅片表面缺陷形貌以及少子寿命特性的影响。结果表明:铸造多晶硅片经低中温(750、850和950℃)RTP时,硅片的少子寿命明显降低,其中在950℃、保温30s时硅片的少子寿命下降幅度最大;当硅片经高温1050℃RTP时,硅片的少子寿命急剧增大,最大幅度达到初始寿命值的4.3倍。另一方面,保温时间对硅片少子寿命也有很大影响,一定RTP温度下,随着保温时间的增加,硅片的少子寿命逐渐增大。
陈玉武郝秋艳刘彩池赵建国王立建吴丹
关键词:少子寿命
快速热处理对重掺As硅单晶中氧沉淀的影响
对重掺As硅片进行快速热处理,发现快速热处理对重掺As硅片中氧沉淀行为有一定的影响.随着快速热处理温度的升高、降温速度的增大和保温时间的延长,氧沉淀的密度缓慢增大.
孙世龙刘彩池郝秋艳滕晓云赵丽伟赵彦桥王立建石义情
关键词:氧沉淀
文献传递
共1页<1>
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