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刘绪磊

作品数:4 被引量:11H指数:2
供职机构:桂林电子科技大学机电工程学院更多>>
发文基金:广西研究生教育创新计划更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇电路
  • 2篇挠性
  • 1篇印制电路
  • 1篇有限元
  • 1篇有限元仿真
  • 1篇正交
  • 1篇正交试验
  • 1篇能量法
  • 1篇热分析
  • 1篇连接器
  • 1篇灵敏度
  • 1篇敏度
  • 1篇挠性电路
  • 1篇挠性印制电路
  • 1篇接触压
  • 1篇接触压力
  • 1篇互连
  • 1篇封装
  • 1篇封装技术
  • 1篇高密度互连

机构

  • 4篇广西科技大学
  • 4篇桂林电子科技...

作者

  • 4篇周德俭
  • 4篇刘绪磊
  • 3篇李永利
  • 2篇黄春跃
  • 1篇张立强

传媒

  • 1篇机电元件
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇电子与封装
  • 1篇桂林电子科技...

年份

  • 3篇2009
  • 1篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
微型板-板连接器结构的仿真分析被引量:1
2008年
利用有限元分析软件ANSYS建立了SEL系列微型板-板连接器的试验有限元模型,以连接器簧片的加载压缩和卸载回弹过程为研究对象,分析了簧片完全压缩后的接触法向力及卸载回弹后的回弹高度,与SAMTEC公司的试验数据对比,误差都不超过10%,验证了所建立的簧片有限元模型的可靠性;然后根据实际应用,建立了应用有限元模型并进行仿真分析,分析结果表明:在实际应用中,连接器簧片会产生比试验时更大的塑性变形,回弹高度为0.45 mm,低于试验模型时的回弹高度0.565 mm;最后根据仿真结果进行预测可知,至少要在上PCB板上施加62N的压力才能保证SEL连接器正常工作。
刘绪磊周德俭黄春跃
关键词:接触压力有限元仿真
基于正交试验的板级电路模块热分析被引量:5
2009年
利用ANSYS的APDL参数化编程语言,建立了灌封电路模块的有限元模型。选取挠性印制电路板(FPCB)厚度、上、下灌封体厚度、空气对流系数和环境温度等7个参数作为关键因素,安排正交试验。结果表明:上、下灌封体厚度等因素都对灌封电路模块工作温度有显著影响,其中空气对流系数的影响最为显著。初始设计的灌封电路模块工作温度为460.94K,通过增加灌封体的厚度,选择高热导率的灌封材料,保证良好的通风散热,控制环境温度,可以将模块的工作温度降到329.11K。
刘绪磊周德俭黄春跃李永利
关键词:热分析正交试验
基于能量法的挠性电路模块热-结构灵敏度分析与优化
2009年
以挠性电路模块为研究对象的一种新的分析与优化方法,通过有限元方法对挠性电路模块进行热-结构耦合特性分析。利用灵敏度分析法,得出影响挠性电路模块热-结构耦合特性的主要因素,并将其作为优化的设计变量。基于能量理论,以挠性电路模块中能量最小化作为优化目标函数,温度作为约束变量。优化结果显示,能量优化率为4.39%,最高温度也有所降低,证明了此方法的可行性。
李永利周德俭张立强刘绪磊
关键词:能量法挠性电路灵敏度
基于挠性基板的高密度IC封装技术被引量:5
2009年
挠性印制电路技术迅速发展,其应用范围迅速扩大,特别是在IC封装中的应用受到人们的广泛关注。挠性印制电路在IC封装中的应用极大地推动了电子产品小型化、轻量化以及高性能化的进程。针对具体应用对象,文章分别介绍了挠性基板CSP封装、COF封装以及挠性载体叠层封装的基本工艺、关键技术、应用现状及发展趋势,充分说明了挠性印制电路和高密度布线对高密度IC封装的适用性。基于挠性基板的IC封装技术将会保持高速的发展,特别是挠性叠层型SIP封装技术具有广阔的应用前景。
刘绪磊周德俭李永利
关键词:挠性印制电路IC封装高密度互连
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