邓朝辉
- 作品数：6 被引量：4H指数：1
- 供职机构：复旦大学材料科学系更多>>
- 相关领域：理学生物学化学工程更多>>
- 环氧树脂的飞行时间二次离子质谱化学结构信息分析被引量：1
- 1995年
- 八十年代发展的新型飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)具有灵敏度高、质量分析范围大、质量分辨率高、几乎无表面损伤、可获得亚微米空间分辨率等特点,特别适合于有机大分子及聚合物分析.在表面粗糙化的银基体上淀积有机大分子的单分子或亚单分子层膜,在keV能量的一次离于轰击下产生的二次离子中,有很强的、由Ag^+离子加上一个完整分子的准分子离子发射.许多作者用该方法对多种聚合物进行了卓有成效的研究.最近,国外有作者为研究环氧树脂成份对金属/环氧树脂界面作用的影响,用上述方法对一系列环氧树脂成份进行了研究.我们也用同样的方法对国产环氧618及815进行了研究.
- 邓朝辉陈维孝宗祥福
- 关键词：环氧树脂质谱化学结构
- 环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪（TOF—SIMS）分析
- 1995年
- 用飞行时间次级离子质谱仪（ＴＯＦ—ＳＩＭＳ）结合银离化技术，研究了两种型号的环氧树脂；发现了一些不同结构的成分。
- 邓朝辉陈维孝宗祥福
- 关键词：飞行时间环氧树脂
- 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新化合物的结构
- 1996年
- 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物,确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰,通过对各种衍生物谱图的对照分析,确认出较强的含有结构特征的碎片离子峰,并对该化合物在离子轰击下的裂解规律作了分析,支持了对该新化合物结构的鉴定.
- 邓朝辉宗祥福任平达董庭威
- 关键词：TOFSIMS杂环化合物
- 环氧树脂与金属界面研究
- 邓朝辉
- 关键词：环氧树脂
- 表面残留有机沾污物的TOF－SIMS及XPS研究
- 1996年
- 飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后、银片上残留的未知的有机物。结果显示，有机沾污物主要是一些含１８～３０碳原子、碳链饱和度很高的酮类和酯类化合物；个别有机物可能是硬脂酰胺。这种结构特点使有机物中的Ｃ＝Ｏ基团易于采取氧原子指向基体表面的取向，通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附。ＴＯＦ－ＳＩＭＳ二维离子像显示有机沾污物在银片表面上呈极稀薄的均匀分布。
- 邓朝辉林晶任云珠宗祥福
- 关键词：XPS
- 飞行时间二次离子质谱结合X-射线光电子能谱分析化学清洗后残留的表面有机物被引量：3
- 1995年
- 用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合X射线光电子能谱,分析了用化学方法清洗后银片上残留的未知有机物.TOF-SIMS与XIPS提供的互补的表面信息显示,中分子量以上的有机物主要是几种链长22～27碳原子、碳链饱和度很高的多酮类化合物,可能还有一些多酯类化合物.这些有机物中的C=O基团易于采取氧原子指向金属基体表面的取向,通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附.
- 邓朝辉林晶任云珠宗祥福
- 关键词：质谱XPS
