吴自玉
- 作品数：121 被引量：327H指数：12
- 供职机构：中国科学技术大学更多>>
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- 相关领域：理学机械工程一般工业技术电子电信更多>>
- 衍射增强成像方法中两种晶体排列方式的对比研究
- 2006年
- 北京同步辐射装置(BSRF)4W1A光束线形貌学实验站近两年开展了两块晶体的衍射增强成像实验研究,在实验中,晶体转轴垂直于同步辐射偏振面时的图像质量好于晶体转轴平行于同步辐射偏振面时获取的图像.本文从X光强度分布、单色器晶体的热膨胀、空间分辨率、角分辨率等方面系统地对两种晶体几何排列方式进行了比较研究.实验和理论分析的结果表明,晶体转轴垂直于同步辐射偏振面时单色器晶体上的热膨胀对成像的影响较小,因而获得了更好的成像质量.
- 黄万霞朱佩平袁清习王越舒航胡天斗吴自玉
- 一种单斜相二氧化钒外延薄膜及其制备方法
- 本发明提供了一种单斜相二氧化钒外延薄膜及其制备方法，包括以下步骤：在真空条件下，将钒原子束和氧原子束喷射到衬底上进行反应，外延生长得到单斜相二氧化钒外延薄膜。本发明所制备的单斜相二氧化钒外延薄膜，具有较高的质量和较大的尺...
- 邹崇文陈实樊乐乐吴自玉
- 文献传递
- X射线显微成像中的光子统计噪声分析
- 2014年
- 光子统计噪声是X射线显微成像中影响图像质量的主要因素之一,它对图像质量的影响一般用信噪比来描述.研究表明,X射线显微图像的信噪比随着入射光子数的增加而增加;但由于X射线会对样品带来损伤,所以实验中要求尽量减少入射的X光光子数.但是传统的基于经验数据的罗斯判据并不能给出客观的答案,特别对经过图像减影处理的带噪图像,罗斯判据并不适用.这里提出"区分概率"的概念对罗斯判据进行分析和改进,有助于找出所需最小入射光子数.将区分概率运用到图像减影法中进行模拟,求出此图像处理方法下所需最小入射光子数.最后得出区分概率在0.4时是图像中物体与背景部分得以区分的一个较合理阈值的结论.
- 吴路崎高昆陈健吴自玉
- 关键词：信噪比
- X射线衍射增强成像中的信息分离和信息处理被引量：5
- 2006年
- 人们已经利用X射线的高穿透性,发展了较为成熟的X射线成像理论和技术．X射线成像已经广泛应用于众多领域．传统X射线成像受生物样品中组织间吸收系数差别较小和散射噪声较大两个因素的限制,不易利用这种方法获得生物组织的信息．衍射增强成像方法不但能将有害的散射噪声滤除,而且能利用样品的折射信息,是一种具有发展潜力的新成像方法．本文利用衍射增强成像,通过在摇摆曲线不同部位成像,然后对信息处理,得到了清晰的吸收像、消光(小角散射滤除)像、小角散射(角)宽度像和折射像,最后通过一定的算法将各种成分的像合成,形成细节部位清晰的合成伪彩色像．
- 陈博舒航朱佩平陈春翀王寯越袁清习江帆陈捷吴自玉明海
- EXAFS研究Zn在δ-MnO_2上的吸附-解吸机理被引量：19
- 2003年
- 用延展X ray吸收精细结构光谱 (EXAFS)研究了重金属Zn(Ⅱ )在δ MnO2 上吸附产物的微观结构及其吸附机制 .在pH 5 5 0 ,0 1mol/LNaNO3介质中 ,吸附在δ MnO2 表面上Zn(Ⅱ )以六配位的水合离子八面体形式存在 .水合锌离子八面体从δ MnO2 层状结构的空位上下方 ,与δ MnO2 的结构单元MnO6 八面体通过共用O原子结合 ,形成角 角结合的弱吸附 ,Zn O平均原子间距为 ( 2 0 71± 0 0 0 7) (n =3 ) ,Zn Mn平均原子间距为 ( 3 5 2 8± 0 0 0 6) (n =3 ) .在同一条等温线上随着吸附量增加 ,以角 角结合的弱吸附形式基本上没有变化 .宏观的吸附 解吸实验结果显示Zn(Ⅱ )在δ MnO2 上的吸附可逆性很高 ,解吸等温线和吸附等温线几乎重合在一起 .EXAFS结果从分子水平表明 ,Zn(Ⅱ )在δ MnO2 上的高吸附可逆性是由角
- 潘纲李贤良秦延文胡天斗吴自玉谢亚宁
- 关键词：EXAFSZNΔ-MNO2
- 实现显微镜系统超分辨成像的方法
- 本发明公开了一种实现显微镜系统超分辨成像的方法。该方法基于一包括光源、聚焦镜、物镜和图像探测器的显微镜系统，包括：搭建显微镜系统；改变显微镜系统中聚焦镜的数值孔径，采集样品的分别对应不同聚焦镜数值孔径的至少两张暗场像；在...
- 吴自玉高昆陈健葛昕王志立王大江潘志云
- 文献传递
- 北京同步辐射光电子能谱实验站近期研究概况
- 2002年
- 随着北京同步辐射光电子能谱实验站持续稳定的开放运行，用户基于该实验站提供的光电子能谱各种实验模式开展了从金属表面界面电子结构到纳米材料、掺杂金属富勒烯以及磁电阻氧化物体系电子结构的研究工作。本文中选择部分具有代表性的实验结果进行介绍。
- 奎热西吴自玉钱海杰张静买买提明陈志刚苏润刘凤琴
- 关键词：电子结构
- 孤立分散在SiO_2基质中的半导体InSb纳米颗粒界面效应的MS-XANES研究
- 2006年
- 利用MS-XANES计算研究了嵌入在SiO2介质中的InSb纳米颗粒的界面效应,结果显示Sb K-XANES实验谱在白线峰强度增大和白线峰向高能一侧展宽这两个特点的起因是:1．SiO2介质透过界面处强的Sb-O共价键间接地影响和改变了InSb团簇中Sb原子内部的势分布;2．通过InSb纳米颗粒界面处存在着强的Sb-O共价键使得Sb原子的5p电子被耗尽来提高InSb纳米颗粒Sb原子的5p的空穴数．这两方面共同决定了InSb纳米颗粒的Sb K-XANES实验谱在白线峰强度的增大．此外,由于纳米颗粒的界面效应,仅仅把白线峰的强度增大归因于吸收原子电荷转移带来的空穴数增加,并依此通过白线峰的强度计算吸收原子的空穴数是不合理的．
- 陈栋梁吴自玉韦世强
- 同步辐射X射线相位衬度CT成像装置及实验方法
- 本发明涉及计算机断层成像技术领域，特别是一种同步辐射X射线相位衬度CT成像装置及实验方法。装置由单色器晶体、样品转台、分析晶体、电离室和成像探测器组成，样品转台由三个转动和两个平动来组成。同步辐射X射线相位衬度CT成像方...
- 吴自玉袁清习王寯越朱佩平黄万霞舒航
- 文献传递
- 气相纯化处理对碳纳米管修饰的XANES和XPS谱学研究
- 2009年
- 结合X射线近边吸收谱和光电子能谱对经过一系列纯化过程处理后的单壁碳纳米管进行系统的表征。这些纯化过程包括空气氧化、盐酸浸泡以及退火处理。从实验结果发现单壁碳纳米管的表面修饰程度在纯化过程中逐渐增强,经过Ar气保护下的高温退火后,这些表面修饰明显减少。同时还发现单壁碳纳米管能与氯原子成键,这种简单的修饰方法可能对单壁碳纳米管的应用具有重要意义。
- 梁先庆钟俊赵挺姚鹏奎热西.易卜拉欣钱海杰吴自玉
- 关键词：X射线吸收谱光电子能谱修饰
