郭猜
- 作品数：5 被引量：7H指数：2
- 供职机构：北京大学物理学院核物理与核技术国家重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家基础科学人才培养基金更多>>
- 相关领域：理学核科学技术一般工业技术更多>>
- MeV离子轰击碳样品引起的碳氢团簇产额
- 2014年
- 利用北京大学2×1.7MV静电串列加速器产生的1.5MeV Au2+和Si+束流轰击碳纳米管样品,用二次离子飞行时间质谱方法分析了二次离子成分,通过质量已知的样品的定标,确认了轰击产生的二次离子质量。分析束流轰击后的二次离子产额,发现在此能量下二次离子产额与离子在物质中射程的横向歧离表现出正相关。
- 刘坤郑涛郭猜杨江燕田继挺聂锐马宏骥丁富荣
- 关键词：二次离子质谱飞行时间
- MeV能量Si^+引起二次离子发射的研究被引量：2
- 2012年
- 利用北京大学2×1.7 MV串列加速器终端的飞行时间(TOF)谱仪,分别用1.5、2.0和3.0MeV三种能量的初级束Si+轰击样品来研究其二次离子发射现象,使用的样品包括石墨、碳纳米管等。结果表明,采用合理的降噪方法后得到了高信噪比和高时间分辨率的二次离子质谱,实现了全质量范围无遗漏记谱。利用H-C12峰刻度之后,计算得出二次离子各成分的最可能构成及产额,碳纳米管样品表面氢质量含量为8.15%。同时,发现MeV能区二次离子产额与Si+阻止本领之间的关系并非简单的正相关。
- 祝兆文郑涛侯杰聂锐马宏骥刘坤郭猜丁富荣
- 关键词：二次离子质谱飞行时间降噪碳纳米管
- 使用背散射与二次离子质谱方法分析类金刚石厚样品中的杂质被引量：1
- 2014年
- 卢瑟福背散射分析是测定薄膜或镀层成分和厚度的成熟手段,但在分析含多种微量元素成分的厚样品时,精确测定样品中多种元素的分布是比较困难的。二次离子质谱对样品表面成分有较高的质量分辨能力,可以作为对卢瑟福背散射分析的补充。在北京大学2×1.7 MV串列静电加速器终端上,结合使用这两种分析方法,分析了类金刚石厚样品中的金属元素杂质。
- 郭猜郑涛刘坤杨江燕田继挺聂锐马宏骥丁富荣
- 关键词：卢瑟福背散射二次离子质谱类金刚石薄膜
- 类金刚石薄膜中杂质分析方法的研究
- 人工合成的类金刚石薄膜与金刚石的性质十分接近，并且制备简单，在近年来日益成为研究的热点领域。类金刚石薄膜在合成过程中不可避免地会引入各种杂质元素，这些杂质的存在会影响薄膜的性质。分析这些杂质元素，可以帮助改善类金刚石薄膜...
- 郭猜
- 关键词：类金刚石薄膜背散射二次离子质谱
- 有限周期性弦球链系统的振动模被引量：4
- 2009年
- 用实验和数值模拟的方法研究了一个有限周期性弦球链系统的振动模.观察到了振动谱的带状结构,表面态模.考察了表面态模的振动频率与第一个小球距弦端的距离τ的关系.用离散差分法对该弦球链系统作了数值模拟并对实验和数值模拟结果作了简单讨论.
- 荀坤郭猜田正阳
- 关键词：弦振动振动模表面态
