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刘国华

作品数:10 被引量:10H指数:2
供职机构:中国科学院计算技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划中国科学院知识创新工程重要方向项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇科技成果
  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇自动化与计算...
  • 3篇电子电信

主题

  • 5篇电路
  • 3篇低功耗
  • 3篇时延
  • 3篇集成电路
  • 3篇功耗
  • 2篇低功耗设计
  • 2篇调整电路
  • 2篇时延特性
  • 2篇芯片
  • 2篇汇聚
  • 2篇基于电路
  • 2篇功耗设计
  • 2篇CPU
  • 2篇CPU设计
  • 1篇硬件
  • 1篇软硬件
  • 1篇软硬件协同
  • 1篇设计技术
  • 1篇通用CPU
  • 1篇通用CPU芯...

机构

  • 10篇中国科学院

作者

  • 10篇刘国华
  • 8篇李晓维
  • 5篇李华伟
  • 4篇闵应骅
  • 3篇范东睿
  • 2篇张福新
  • 2篇樊建平
  • 2篇范宝峡
  • 2篇钟石强
  • 2篇尹志刚
  • 2篇王海洋
  • 2篇刘华平
  • 2篇王剑
  • 2篇周旭
  • 2篇张志敏
  • 2篇胡伟武
  • 2篇赵继业
  • 2篇冯雷
  • 2篇王卓昊
  • 2篇郑保建

传媒

  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇系统仿真学报
  • 1篇第二届中国测...
  • 1篇第九届全国容...

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2004
  • 1篇2003
  • 5篇2002
  • 2篇2001
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于电路静态时延特性的冒险检测和消除方法
本发明涉及检测和消除集成电路中产生冒险的方法。包括:电路静态时延特性的冒险检测和消除方法。通过适当调整电路中部分路径的长度来消除或减少冒险。当只有一个原始输入发生跳变时,如果两条延时不同的路径在电路某点汇聚,并且这两条路...
刘国华闵应骅李晓维
文献传递
集成电路中冒险的检测和消除
CMOS集成电路中的冒险现象会增大电路的功耗.所以对集成电路中冒险的检测和消除的研究十分重要.本文分别对集成电路中原始输入单跳变,和多跳变两种情况下产生的冒险现象进行了研究,提出了检测和消除冒险的方法.本文的方法可以在非...
刘国华余潇洋闵应骅
关键词:集成电路
文献传递
集成电路中冒险的检测和消除被引量:3
2002年
CMOS集成电路中的冒险现象会增大电路的功耗,所以对集成电路中冒险的检测和消除的研究十分重要。文章分别对集成电路中原始输入单跳变,和多跳变两种情况下产生的冒险现象进行了研究,提出了检测和消除冒险的方法。文章的方法可以在非常短的时间内检测出电路中可能产生冒险的点,对于单个原始输入跳变的情况可以通过增加很少的电路开销来消除一部分冒险点。
刘国华余潇洋闵应骅李晓维
关键词:集成电路CMOS集成电路低功耗设计
基于模拟的验证技术在一款通用CPU设计中的应用
设计验证是芯片设计过程中保证其可靠性的一个重要环节.其中基于模拟的验证是实际中最主要的方法.虽然同样是把激励加载在功能规范和设计上,通过模拟来比较二者的响应,但是根据激励产生的方法或指导思想不同,又有各种不同的基于模拟的...
吕涛李华伟尹志刚刘国华李晓维樊建平
文献传递
软硬件协同的低功耗系统设计
李晓维赵荣彩徐勇军韩银和骆祖莹何蓉晖刘国华范东睿陈治国蒋敬旗李华伟高光荣
在体系结构级,以目前国际流行参考基准,构建了超标量体系结构低功耗分析模拟环境,结合龙芯通用CPU芯片设计,完成了低功耗分析研究。在编译优化级,研究多线程低功耗的编译优化技术,针对支持多线程的两类体系结构模型,分别提出相应...
关键词:
关键词:低功耗软硬件协同系统设计技术
基于电路静态时延特性的冒险检测和消除方法
本发明涉及检测和消除集成电路中产生冒险的方法。包括:电路静态时延特性的冒险检测和消除方法。通过适当调整电路中部分路径的长度来消除或减少冒险。当只有一个原始输入发生跳变时,如果两条延时不同的路径在电路某点汇聚,并且这两条路...
刘国华闵应骅李晓维
文献传递
GODSON CPU设计与验证系统
唐志敏胡伟武张志敏王剑许彤赵继业范宝峡郑保建钟石强王海霞周旭王海洋冯雷刘华平葛亮张福新王卓昊李祖松范东睿李晓维李华伟刘国华吴少刚胡明昌
该项目研制出我国第一个高性能通用CPU Godson,在通用CPU设计技术方面达到国内领先水平,在动态流水线的具体实现技术和CPU硬件对系统安全性的支持方面,有重要创新,达到了国际先进水平。 Godson CPU含600...
关键词:
关键词:CPU
通用CPU设计中的模拟验证技术及应用被引量:7
2002年
设计验证是芯片设计过程中保证其可靠性的重要环节。其中,模拟是实际中最主要的验证方法。根据应用目的的不同,可以将模拟验证技术分为两大类:针对矢量产生的技术和针对验证评估的技术。本文分类阐述了多种通用的验证技术的原理,在分析和比较的基础上指出各自的优缺点,并介绍了其在一款通用CPU设计之中的应用,包括应用平台、实验数据以及相应的分析。
吕涛李华伟尹志刚刘国华李晓维樊建平
关键词:CPU芯片
基于冒险分析的低功耗设计和基于测试的设计验证
该文分别研究了单原始输入跳变导致的冒险现象和多原始输入跳变导致的冒险现象.提出了一种新的检测和减少冒险的方法.该文提出的方法,根据电路的时延牧场生对于产生冒险的条件做出判别.而通过适当调整电路中部分路径的长度来消除或减少...
刘国华
关键词:低功耗时延集成电路
文献传递
高性能通用CPU芯片研制龙芯1号
唐志敏胡伟武张志敏李晓维陈岚王剑许彤黄令仪李华伟赵继业范宝峡郑保建钟石强张福新安虹周旭王海霞李祖松范东睿郑为民程晓东梅张雄张同新李文张珩王海洋冯雷刘华平葛亮王林楠左红军蒋见花陈守顺杨旭高翔刘国华王卓昊蒋敬旗
龙芯1号通用CPU芯片是在中国科学院知识创新工程方向性项目“高性能通用CPU芯片研制”和“十五”863计划重点课题“高性能通用CPU芯片设计”支持下,完成的阶段性成果。该项目主要研究通用微处理器(CPU)芯片的设计技术。...
关键词:
关键词:高性能通用CPU芯片龙芯1号
共1页<1>
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