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文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 2篇功率
  • 2篇二极管
  • 2篇发光
  • 2篇发光二极管
  • 1篇导热性
  • 1篇对移
  • 1篇多通道
  • 1篇移相
  • 1篇射频
  • 1篇射频收发
  • 1篇使用寿命
  • 1篇收发
  • 1篇频段
  • 1篇热阻
  • 1篇热阻测试
  • 1篇稳态
  • 1篇系统级封装
  • 1篇接收组件
  • 1篇激活能
  • 1篇加速寿命试验

机构

  • 2篇中国电子科技...
  • 2篇国家半导体器...

作者

  • 4篇武红玉
  • 2篇刘东月
  • 2篇徐立生
  • 2篇彭浩
  • 1篇张瑞霞
  • 1篇黄杰
  • 1篇乔明昌
  • 1篇高兆丰
  • 1篇高金环
  • 1篇汪江涛

传媒

  • 2篇半导体技术
  • 1篇电讯技术
  • 1篇舰船电子对抗

年份

  • 2篇2016
  • 2篇2009
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
毫米波多通道接收组件隔离度对移相的影响被引量:3
2016年
介绍了多通道接收组件的典型原理框图,给出了通道隔离度、耦合度、移相精度和移相寄生调幅的概念,使用相量法推导了通道耦合度对移相精度和移相寄生调幅影响的计算公式,指出理论上隔离度对移相指标的影响与频率无关。利用软件仿真了通道隔离度对移相精度和移相寄生调幅的影响,得到了与公式计算相同的数值,两者互相得到了验证。提出了改善通道隔离度的方法,设计加工了一种Ka波段的四通道接收组件,改善了通道隔离度,具有较好的移相精度和移相寄生调幅指标。
武红玉厉志强乔明昌赵子润
关键词:毫米波多通道隔离度
功率LED使用寿命评价被引量:7
2009年
概述了照明用功率LED的发展历程,遵循LED的退化规律和退化系数与结温间满足阿列尼斯方程的关系,提出了一种实用的温度应力加速寿命试验对功率LED寿命进行评价的试验方法,并利用上述方法对CREE公司生产的功率型红光LED的寿命进行评价,采用图估法和数值分析两种方法进行数据处理,获得了其工作结温不高于80℃的使用寿命,对功率LED可靠性研究具有一定的意义。
高金环彭浩武红玉刘东月高兆丰黄杰徐立生
关键词:功率发光二极管加速寿命试验激活能使用寿命
大功率LED稳态热阻测试的关键因素被引量:4
2009年
热阻值是衡量LED芯片和封装导热性能的主要参数,但在热阻的测试过程中时间、温度和电流等因素都会对结果造成直接影响,因此测试时应综合各种因素,透彻理解参数定义,根据相关标准灵活运用测试设备,以达到较高的测试精度和重复性。按照热阻测试步骤,详述影响其测试结果的因素,并提出较为准确的修正方法,设计了简单试验来验证测试结果是否符合理论分析。经试验证明,该测试方法可作为制定LED标准中的参考。
彭浩武红玉刘东月张瑞霞徐立生
关键词:发光二极管导热性热阻测试
系统级封装的S频段射频收发模块研制被引量:2
2016年
研制了一种小体积的S频段射频收发系统级封装(SIP)模块,内部集成了基于多种工艺的器件。模块接收通道一次变频,发射通道二次变频,内部集成中频和射频本振信号源。模块采用双腔结构,不同腔体之间通过绝缘子进行垂直互连,大大减小了模块体积,模块体积为40 mm×40 mm×10 mm。模块采用正向设计,其主要指标的测试结果为:接收通道动态范围-100^-40 d Bm,输出信号0~2 d Bm,噪声系数小于等于2.8 d B,带外抑制大于等于50 d Bc;发射通道输出信号大于等于2d Bm,二次、三次谐波抑制大于等于60 d Bc,杂波抑制大于等于55 d Bc,相位噪声在1 k Hz和10 k Hz处分别小于等于-82 d Bc/Hz和-91 d Bc/Hz。实测结果与仿真结果基本一致。
武红玉厉志强汪江涛
关键词:S频段系统级封装
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