蔡少英
- 作品数：18 被引量：40H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信理学一般工业技术经济管理更多>>
- 2001年度可靠性工程技术现状报告(上)被引量：2
- 2001年
- 根据各种相关的技术文献 ,概述了可靠性工程技术领域目前存在的问题和未来的发展趋势。
- 蔡少英
- VLSI可靠性面临挑战——从器件物理性质到圆片规模系统
- 1996年
- 在VLSI技术中,每块芯片有1亿块到10亿块晶体管,VLSI有非常高的速度和复杂的加工手段,从而把生产技术推向实际的极点。为了满足极低失效率的设计目标,出现了单圆片加工、工具组合和自动化的提高。如果生产方法要满足这些需要,就必须了解不同失效机理的物理特性。在获取高可靠性方面,日本和美国的生产方法不太一样。在日本,对质量的期望和竞争的压力产生了一种用户应得到高可靠性的文化环境,用户的要求迫使厂家研制出内建可靠性的生产过程。因而质量控制管理观念得到了广泛接受(设计人员和组装工人一同合作,减少生产缺陷),设计者在设计中则坚持降低对供应和生产变量敏感度的设计思想。
- 蔡少英
- 关键词：VLSI可靠性
- 2001年度可靠性工程技术现状报告(下)被引量：1
- 2001年
- 蔡少英
- 美国军用规范和标准的新形势
- 1996年
- 目前,军用规范和标准的使用、接受程度及需要正引起广泛的质疑和讨论.美国国防部在1994年5月14～18日召开的1994标准化管理活动研讨会对这一主题进行了详细的讨论。DOD规范与标准程序执行队伍(Process Action Team)的章程指出:·允许使用商业产品、商业活动、商业过程;·要评价各种建议对系统采办过程的影响;·要保护政府的利益。这一队伍提出的指导性政策和方案是要限制军用规范和标准的使用,并包括以下内容:
- 蔡少英
- 关键词：军用规范
- 传统试验方法的改变被引量：1
- 1995年
- 随着电子生产行业不断出现新材料、新工艺,试验和评价手段也需要进一步提高。用于质量鉴定和评价的最常见试验是离子/结构清洁度试验和表面绝缘电阻试验(SIR),以及电应力筛选(ESS)。每种试验都旨在反映不同的故障或失效机理。厂家和试验人员都应了解试验、试验目标和试验的缺点,以便更好地使用数据。 清洁度试验 ROSE(抗溶剂萃取性)试验原先是用来在敷形涂覆之前确定离子清洁度的,并且在使用焊剂的生产过程中用作一种过程控制的手段。现在这种试验仍然是一种生产支持手段,但在非焊剂技术中,尤其是作为一种分析工具,其使用很成问题。要评价。
- 蔡少英
- 关键词：电子元器件清洁度表面绝缘电阻
- 国防电子商务计划被引量：2
- 2002年
- 概述了美国国防部国防电子商务计划发展的背景、实施计划、现状及其在政府管理改革中的作用,并重点介绍了中央承包商注册（CCR）、国防部商业机会网站（DoDBusOpps）和国防部电子商城（DoDEMALL）的电子商务计划的发展现状和效果。
- 蔡少英
- 国外军用电子元器件可靠性技术研究进展被引量：8
- 2005年
- 为了学习、吸收和借鉴国外的先进技术和经验,对国外军用电子元器件可靠性技术进行了跟踪研究,介绍了塑封微电路(PEM)、光电子等新的元器件的可靠性试验与评价技术、新的失效分析技术以及MCM、KGD、MEMS等新技术的可靠性研究现状,探讨了国外军用电子元器件可靠性技术的研究方向和发展趋势。
- 肖虹田宇蔡少英刘涌
- 关键词：军用电子元器件塑封微电路光电子
- 1999年度可靠性工程技术现状报告被引量：1
- 1999年
- 蔡少英
- 关键词：可靠性IEEEY2K问题
- 国外塑封微电路的可靠性研究进展被引量：21
- 2000年
- 目前，国外对塑封微电路（ＰＥＭ）的可靠性研究主要集中在如下几个方面：ＰＥＭ的低温分层、失效分析、鉴定试验、长期贮存可靠性评价以及ＰＥＭ在军用电子设备中的应用等，对此进行了综述。
- 肖虹蔡少英刘涌
- 关键词：塑封微电路可靠性集成电路
- 国外电子元器件可靠性试验情报跟踪
- 2005年
- 跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等。
- 蔡少英
- 关键词：电子元器件集成电路测试
