您的位置： 专家智库 > >

肖虹

作品数：2 被引量：28H指数：2
供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇塑封
  • 2篇塑封微电路
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇元器件
  • 1篇军用电子元器...
  • 1篇可靠性
  • 1篇集成电路
  • 1篇光电
  • 1篇光电子

机构

  • 2篇信息产业部电...

作者

  • 2篇蔡少英
  • 2篇肖虹
  • 2篇刘涌
  • 1篇田宇

传媒

  • 2篇电子产品可靠...

年份

  • 1篇2005
  • 1篇2000
共 2 条 记 录，以下是 1-2
全选 清除 导出
排序方式：
国外塑封微电路的可靠性研究进展被引量：21
2000年
目前，国外对塑封微电路（ＰＥＭ）的可靠性研究主要集中在如下几个方面：ＰＥＭ的低温分层、失效分析、鉴定试验、长期贮存可靠性评价以及ＰＥＭ在军用电子设备中的应用等，对此进行了综述。
肖虹蔡少英刘涌
关键词：塑封微电路可靠性集成电路
国外军用电子元器件可靠性技术研究进展被引量：8
2005年
为了学习、吸收和借鉴国外的先进技术和经验,对国外军用电子元器件可靠性技术进行了跟踪研究,介绍了塑封微电路(PEM)、光电子等新的元器件的可靠性试验与评价技术、新的失效分析技术以及MCM、KGD、MEMS等新技术的可靠性研究现状,探讨了国外军用电子元器件可靠性技术的研究方向和发展趋势。
肖虹田宇蔡少英刘涌
关键词：军用电子元器件塑封微电路光电子
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0