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陈文学

作品数：12 被引量：0H指数：0
供职机构：清华大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 12篇中文专利

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 8篇激光
  • 7篇测量方法
  • 6篇双折射
  • 6篇平面反射镜
  • 6篇外腔
  • 6篇激光器
  • 6篇反射镜
  • 5篇外腔激光器
  • 5篇位相
  • 4篇波片
  • 3篇光学
  • 3篇光学元件
  • 2篇信号控制
  • 2篇信号控制系统
  • 2篇旋转轴
  • 2篇增透
  • 2篇增透膜
  • 2篇折射率
  • 2篇同时测量
  • 2篇匹配层

机构

  • 12篇清华大学

作者

  • 12篇陈文学
  • 12篇张书练
  • 6篇谈宜东
  • 2篇李浩昊
  • 1篇赵子英

年份

  • 4篇2015
  • 1篇2014
  • 3篇2013
  • 4篇2012
共 12 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
双折射元件光轴的测量方法
本发明提供一种双折射元件光轴的测量方法，包括以下步骤：半外腔激光器连续输出激光，模式为单纵模；调整所述偏振片，使所述偏振片的偏振方向与所述半外腔激光器输出激光的初始偏振方向垂直；将所述双折射设置于所述输出腔镜与所述外腔平...
张书练陈文学谈宜东
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一种光学元件各向异性检测装置
本发明涉及一种光学元件各向异性检测装置，它包括激光器、回馈外腔、信号控制系统和信号处理系统，所述激光器包括激光增益管，所述激光增益管的轴线左侧设置内腔凹面反射镜，所述激光增益管的轴线右侧依次设置增透窗片和外腔平面反射镜，...
张书练陈文学
转动角度的测量方法
本发明提供一种转动角度的测量方法，包括以下步骤：半外腔激光器连续输出激光，模式为单纵模；将待测样品与所述双折射元件固定连接，所述待测样品带动所述双折射元件共同转动；转动所述待测样品及所述双折射元件，使所述双折射元件以垂直...
张书练陈文学谈宜东
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同时测量双折射元件厚度及折射率的测量方法
本发明提供一种同时测量双折射元件厚度及折射率的测量方法，包括以下步骤：半外腔激光器连续输出激光，模式为单纵模；调整偏振片的偏振方向与所述半外腔激光器输出激光的偏振方向垂直；将双折射元件设置于所述输出腔镜与所述外腔平面反射...
张书练陈文学谈宜东
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同时测量双折射元件厚度及折射率的测量方法
本发明提供一种同时测量双折射元件厚度及折射率的测量方法，包括以下步骤：半外腔激光器连续输出激光，模式为单纵模；调整偏振片的偏振方向与所述半外腔激光器输出激光的偏振方向垂直；将双折射元件设置于所述输出腔镜与所述外腔平面反射...
张书练陈文学谈宜东
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激光回馈光学元件位相延迟在盘检测装置
本发明公开一种激光回馈光学元件位相延迟在盘检测装置，包括激光器、激光回馈外腔以及数据采集与处理系统，其中；激光器，为光学元件位相延迟检测向激光回馈外腔提供测量光；激光回馈外腔，实现激光偏振态的偏振跳动过程，并向数据采集与...
张书练李浩昊陈文学
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转动角度的测量方法
本发明提供一种转动角度的测量方法，包括以下步骤：半外腔激光器连续输出激光，模式为单纵模；将待测样品与所述双折射元件固定连接，所述待测样品带动所述双折射元件共同转动；转动所述待测样品及所述双折射元件，使所述双折射元件以垂直...
张书练陈文学谈宜东
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一种波片加工过程中用于消除光学干涉效应的装置
本发明涉及一种波片加工过程中用于消除光学干涉效应的装置，其特征在于：它包括一光胶盘，所述光胶盘上光胶有一个以上待加工的波片，所述波片上设置有一平板玻璃，每一所述波片与所述平板玻璃接触处设置有一采用折射率匹配液制作的匹配层...
张书练陈文学
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双折射元件光轴的测量方法
本发明提供一种双折射元件光轴的测量方法，包括以下步骤：半外腔激光器连续输出激光，模式为单纵模；调整所述偏振片，使所述偏振片的偏振方向与所述半外腔激光器输出激光的初始偏振方向垂直；将所述双折射设置于所述输出腔镜与所述外腔平...
张书练陈文学谈宜东
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波片位相延迟量测量方法及光胶盘
本发明公开一种波片位相延迟量在线测量方法，为解决现有测量方法精度差的问题而设计。本发明波片位相延迟量在线测量方法为令测量光束穿过波片和光胶盘上与波片位置对应的通孔得到测量结果，消除光胶应力双折射和/或光胶盘加工残余应力双...
张书练陈文学李浩昊赵子英
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