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文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 2篇漂移区
  • 2篇静电放电
  • 2篇SOI_LD...
  • 2篇LDMOS
  • 1篇电流
  • 1篇电容
  • 1篇电子器件
  • 1篇氧化层
  • 1篇栅氧化
  • 1篇栅氧化层
  • 1篇输出电容
  • 1篇输出端
  • 1篇图形化
  • 1篇频率特性
  • 1篇静电保护
  • 1篇跨导
  • 1篇击穿电压
  • 1篇二次电流
  • 1篇RESURF
  • 1篇ESD

机构

  • 5篇西安电子科技...

作者

  • 5篇习毓
  • 4篇李德昌
  • 4篇曲越
  • 1篇姜雨男
  • 1篇何琳

传媒

  • 2篇电子器件
  • 1篇第六届中国纳...
  • 1篇陕西省物理学...

年份

  • 1篇2008
  • 4篇2007
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
新型SCR-LDMOS静电放电保护结构
研究了一种新的具有ESD自保护结构的SCR-LDMOS,它是通过在漏极加入P+扩散对传统LDMOS结构的改进.模拟了器件的击穿特性并分析了二次电流It2提高的原因。ISE软件模拟结果表明:该结构具有良好的开启态,二次击穿...
习毓李德昌曲越
关键词:电子器件静电放电
文献传递
新型SCR-LDMOS输出端的静电放电保护结构
2007年
研究了一种新的具有ESD自保护结构的SCR-LDMOS,它是通过在漏极加入P+扩散对传统LDMOS结构的改进.模拟了器件的击穿特性并分析了二次电流It2提高的原因.ISE软件模拟结果表明:该结构具有良好的开启态,二次击穿电流和ESD耐压是传统LDMOS的8.5倍;关闭态有比较高的BVDB可以满足使用的要求.
习毓李德昌曲越
关键词:LDMOSESD
射频LDMOS的击穿电压与静电保护
横向高压功率器件LDMOS/(Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor/)以其高耐压、高增益、高跨导、宽动态范围、低失真和易于与...
习毓
关键词:RESURF静电放电二次电流
文献传递
漂移区的改进对SOI LDMOS频率特性的影响
借助ISE软件,以调试后各参数性能优良的图形化SOI LDMOS器件为仿真平台,采用Step LDD结构、层叠LDD结构、阶梯掺杂结构以及“鸟嘴”结构来降低输出电容,提高器件的频率特性。模拟结果表明:这4种方法最多可分别...
曲越李德昌习毓姜雨男何琳
关键词:漂移区输出电容
文献传递
图形化SOI LDMOS跨导特性的研究被引量:2
2007年
借助ISE软件,以调试后各参数性能优良的图形化SOI LDMOS器件为仿真平台,研究并分析了栅氧化层厚度,漂移区浓度,沟道浓度,SOI层厚度四个结构工艺参数对图形化SOI LDMOS跨导gm的影响.文章指出了对跨导gm有影响的因素,并为降低跨导应该进行的参数调节提供了参考.
曲越李德昌习毓
关键词:LDMOS跨导栅氧化层漂移区
共1页<1>
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