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段超

作品数：38 被引量：12H指数：2
供职机构：中国空间技术研究院更多>>
相关领域：电子电信电气工程自动化与计算机技术机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 33篇专利
  • 4篇期刊文章
  • 1篇标准

领域

  • 10篇电子电信
  • 2篇电气工程
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇文化科学

主题

  • 10篇宇航
  • 7篇芯片
  • 5篇封装
  • 4篇元器件
  • 3篇电路
  • 3篇电子元
  • 3篇能谱
  • 3篇砝码
  • 3篇微光
  • 3篇显微镜
  • 3篇可靠性
  • 3篇二极管
  • 3篇封装器件
  • 3篇测试装置
  • 2篇电极
  • 2篇电容
  • 2篇电容器
  • 2篇电学
  • 2篇电子背散射衍...
  • 2篇叠层

机构

  • 38篇中国空间技术...

作者

  • 38篇段超
  • 29篇王旭
  • 27篇孟猛
  • 18篇龚欣
  • 16篇张延伟
  • 15篇张伟
  • 15篇陈雁
  • 10篇王智彬
  • 8篇倪晓亮
  • 6篇孙吉兴
  • 4篇李婷
  • 4篇孙佳佳
  • 3篇朱恒静
  • 3篇刘豫东
  • 3篇姬青
  • 2篇刘迎辉
  • 2篇王燕涛
  • 2篇夏泓
  • 2篇成亮
  • 2篇张磊

传媒

  • 2篇电子产品可靠...
  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子显微学报

年份

  • 4篇2024
  • 2篇2023
  • 3篇2022
  • 3篇2021
  • 1篇2020
  • 3篇2019
  • 4篇2018
  • 2篇2017
  • 1篇2016
  • 3篇2015
  • 4篇2014
  • 6篇2013
  • 2篇2012
共 38 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
隔离型达林顿管静态漏电失效分析
2014年
分析了半导体器件静态漏电对高可靠设备造成的危害。对比了失效器件在不同偏压条件下的测试结果,结合器件芯片版图的设计特点以及制造工艺特点,对隔离型达林顿管静态漏电的失效现象进行了分析,通过故障树分析,排除了外部沾污、静电损伤、过电应力损伤等使用问题导致器件失效的可能性,提出了器件出现异常静态漏电流是因为采用扩散方法制作的pn结深度不足导致的假设,并利用磨角染色法证明了失效芯片隔离岛隔离墙pn结深度不足的假设,并提出了改进意见。
王旭段超龚欣孟猛
一种电子元器件参数测试装置
本发明公开了一种电子元器件参数测试装置及方法，所述测试装置包括中央处理器，控制单元，电平转换单元，电压、电流检测单元，存储单元和人机交互单元，中央处理器分别与人机交互单元和控制单元连接；控制单元分别与存储单元、电压、电流...
段超孙吉兴陈雁王旭孟猛龚欣张伟姬青张延伟
文献传递
一种热超声金丝键合工艺FMEA过程质量分析和控制方法
本发明提供了一种热超声金丝键合工艺FMEA过程质量分析和控制方法，包括：根据宇航用器件热超声金丝键合工艺的工艺流程，对键合工艺各工序的功能进行分析；结合键合工艺各工序功能，对宇航用器件热超声金丝键合工艺各工序进行潜在失效...
程晓冉丁鸷敏段超吴照玺曹瑞吴凯莲栗超孟猛张延伟
一种圆形封装器件用内部气氛测试保护装置
本发明涉及一种圆形封装器件用内部气氛测试保护装置和方法，用于将圆形器件装入该装置中并固定，从侧面对其进行穿刺，对其进行内部气氛测试，所述装置包括载物底座、密封圈、固定栓、张紧器；载物底座的中部设有样品槽，用于容纳待测器件...
丁鸷敏倪晓亮吴凯莲程晓冉栗超吴照玺段超孟猛
一种宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统
本发明公开了一种宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统，其中，该方法包括：根据宇航用SiP器件的组成结构，对宇航用SiP器件的各个模块进行层次定义；对宇航用SiP器件的各个模块进行潜在失效模式分析，确定宇航用SiP器件...
丁鸷敏吴照玺王小青田阳段超
文献传递
一种微光显微镜偏置装置
本发明一种微光显微镜偏置装置，包括外部电源、上位机、处理器、双通道测试工位、多阵列拨码开关、系统接口和驱动模块；外部电源对被测器件、测试模块和驱动模块供电；上位机发送控制信号给处理器，处理器对控制信号进行处理得到电压信号...
王小青段超吴照玺丁鸷敏孟猛王旭
文献传递
一种系统级封装器件的结构分析方法
本发明涉及一种系统级封装器件的结构分析方法，在SiP器件结构单元分解的基础上，对SiP器件进行力、热、力热耦合、电磁的仿真分析与评价后，在评价中考虑了SiP器件各结构单元之间的影响，包括力、热、力热耦合和电磁等；然后又进...
王智彬朱恒静张延伟孟猛龚欣王旭段超张伟丁鸷敏
一种宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统
本发明公开了一种宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统，其中，该方法包括：根据宇航用SiP器件的组成结构，对宇航用SiP器件的各个模块进行层次定义；对宇航用SiP器件的各个模块进行潜在失效模式分析，确定宇航用SiP器件...
丁鸷敏吴照玺王小青田阳段超
文献传递
一种微光显微镜偏置装置
本发明一种微光显微镜偏置装置，包括外部电源、上位机、处理器、双通道测试工位、多阵列拨码开关、系统接口和驱动模块；外部电源对被测器件、测试模块和驱动模块供电；上位机发送控制信号给处理器，处理器对控制信号进行处理得到电压信号...
王小青段超吴照玺丁鸷敏孟猛王旭
文献传递
一种用于宇航用叠层封装器件的破坏性物理分析方法
一种用于宇航用叠层封装器件的破坏性物理分析方法，包含如下步骤：步骤1，对叠层封装器件的钽屏蔽外壳进行检查，如果叠层封装器件不具有钽屏蔽外壳，进入步骤2；如果叠层封装器件具有钽屏蔽外壳，则对钽屏蔽外壳进行检查；步骤2，对封...
段超王旭成亮陈雁孟猛龚欣张伟倪晓亮张延伟
文献传递
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