您的位置: 专家智库 > >

杨海峰

作品数:2 被引量:3H指数:1
供职机构:中国科学院半导体研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇氮化
  • 1篇氮化镓
  • 1篇电子显微分析
  • 1篇砷化镓
  • 1篇透射电子显微...
  • 1篇显微分析
  • 1篇立方相
  • 1篇缓冲层
  • 1篇分子束
  • 1篇分子束外延
  • 1篇半导体
  • 1篇GAN
  • 1篇MGAL2O...
  • 1篇GAAS

机构

  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇韩培德
  • 2篇张泽
  • 2篇杨海峰
  • 1篇滕学公
  • 1篇段树坤
  • 1篇周增圻
  • 1篇林耀望
  • 1篇李新峰
  • 1篇杨辉

传媒

  • 2篇Journa...

年份

  • 1篇1999
  • 1篇1998
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
分子束外延GaN/GaAs立方相异质结构的电子显微分析被引量:2
1999年
运用透射电子显微镜分析了分子束外延的立方相GaN/GaAs异质微观结构.在GaN外延层中,观察到大量的、不对称的{111}面缺陷(层错和微孪晶),以及失配位错在该大失配界面上的非优化排列。
韩培德杨海峰杨辉林耀望张泽李新峰周增圻
关键词:砷化镓电子显微分析分子束外延
半导体GaN/MgAl2O4中缓冲层的透射电子显微分析被引量:1
1998年
运用透射电子显微镜(TEM)和高分辨透射电子显微镜(HREM)对金属有机化学气相沉积(MOCVD)的(0001)GaN/(111)MgAl2O4异质结构中的缓冲层进行了观察和分析。
韩培德杨海峰张泽段树坤滕学公
关键词:氮化镓缓冲层透射电子显微镜
共1页<1>
聚类工具0