您的位置: 专家智库 > >

蒋西

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:内蒙古大学物理科学与技术学院更多>>
发文基金:内蒙古自治区自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇导电类型
  • 1篇电池
  • 1篇电学
  • 1篇电学特性
  • 1篇性能分析
  • 1篇冶金
  • 1篇制备及特性
  • 1篇太阳电池
  • 1篇硅太阳电池
  • 1篇N型
  • 1篇P-N结
  • 1篇
  • 1篇

机构

  • 2篇内蒙古大学

作者

  • 2篇蒋西
  • 1篇李健
  • 1篇董斌华

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 2篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
冶金硅太阳电池的P-N结制造工艺分析与优化
用常规丝网印刷技术研制冶金物理法提纯的多晶硅太阳电池。针对冶金硅片的少子寿命低,采用短时间磷吸杂工艺使原始硅片的少子寿命从0.8-0.9μs提高到1.26-1.44μs。用液态源单面扩散磷掺杂的方法制得P-N结。经过优化...
蒋西
关键词:性能分析
n型CuInS_2薄膜的制备及特性被引量:1
2013年
将高纯Cu,In和S粉末按1:0.1:1.2(原子个数比)配比混合均匀,热蒸发沉积CuInS2薄膜,再将薄膜进行热处理。研究热处理工艺对薄膜性能和导电类型转换的影响。本研究制备的薄膜经360℃,30 min的热处理,得到n型、黄铜矿结构的CuInS2薄膜,平均晶粒尺寸29.43 nm。经370℃,20 min热处理的CuInS2薄膜也呈n型,平均晶粒尺寸38.23 nm。霍尔效应测试显示上述两种n型CuInS2薄膜的导电性良好,迁移率分别为1.071 cm2/V·s和53.82 cm2/V·s。能谱分析给出,CuInS2薄膜(360℃)体内原子个数比Cu:In:S=1:1.2:1.6,S元素损失较多。CuInS2薄膜(370℃,20 min)的原子个数比为1:0.8:1.4,S和In元素的含量较少;扫描电子显微镜给出薄膜表面呈颗粒状,随热处理温度增加,薄膜表面的致密性变好但粗糙度增大,370℃,30 min热处理后CuInS2的晶相结构不变,导电类型转为p型,迁移率为1.071 cm2/V·s。
蒋西李健董斌华
关键词:电学特性导电类型
共1页<1>
聚类工具0