刘彦斌
- 作品数：10 被引量：2H指数：1
- 供职机构：合肥工业大学更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金安徽高校省级自然科学研究基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术航空宇航科学技术文化科学更多>>
- 基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法
- 集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征，采用冗余的时序单元对数据路径进行加固，并通过多时钟...
- 严鲁明梁华国黄正峰徐辉刘彦斌史冬霞
- 关键词：可靠性
- 文献传递网络资源链接
- 一种针对隐形飞机的双基ISAR成像检测方法
- 本发明公开了一种针对隐形飞机的双基ISAR成像检测方法，主要解决了隐形飞机不能被单基地ISAR有效识别的问题。其实现过程是：（1）精确表达隐身飞机的点目标回波信息；（2）进行距离压缩处理；（3）进行包括距离走动距离徙动校...
- 周芳刘彦斌杨学志
- 抗辐射加固的乘法器电路设计
- 随着器件特征尺寸快速缩小，急剧下降的工作电压使得电路内部节点的关键电荷相应减小，再加上日益加剧的工艺偏差，使得软错误率不断攀升。特别是在航空航天环境下，高能粒子辐射诱发的软错误现已成为影响集成电路可靠性的首要因素。针对这...
- 秦晨飞黄正峰刘彦斌梁华国汪健杨叔寅
- 关键词：电路设计
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展，集成电路的工艺尺寸不断减小，从而使晶体管更容易老化。本文介绍了一种预测老化电路，检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭，降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中，...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：集成电路电路设计多路复用
- 集成电路的老化预测与ESD防护研究
- 集成电路自诞生以来一直按照摩尔定律的趋势发展,集成电路的飞速发展使整个社会发生了巨大的变革,使人们的生活更加方便和轻松;集成电路的快速发展使集成电路的工艺尺寸不断减小,从而使集成电路的集成度越来越高,器件的栅氧厚度不断变...
- 刘彦斌
- 关键词：NBTI效应ESD防护集成电路仿真软件
- 文献传递
- 抗辐射加固的乘法器电路设计
- 随着器件特征尺寸快速缩小,急剧下降的工作电压使得电路内部节点的关键电荷相应减小,再加上日益加剧的工艺偏差,使得软错误率不断攀升。特别是在航空航天环境下,高能粒子辐射诱发的软错误现已成为影响集成电路可靠性的首要因素。针对这...
- 秦晨飞黄正峰刘彦斌梁华国汪健杨叔寅
- 关键词：抗辐射加固乘法器双模冗余三模冗余
- 文献传递
- 一种针对隐形飞机的双基ISAR成像检测方法
- 本发明公开了一种针对隐形飞机的双基ISAR成像检测方法，主要解决了隐形飞机不能被单基地ISAR有效识别的问题。其实现过程是：（1）精确表达隐身飞机的点目标回波信息；（2）进行距离压缩处理；（3）进行包括距离走动距离徙动校...
- 周芳刘彦斌杨学志
- 一种基于功能复用的容错扫描链电路结构被引量：2
- 2012年
- 由于软错误已经成为影响芯片可靠性的主导原因,文章提出一种容忍软错误的高可靠BIST结构——TMR-CBILBO。通过构建三模冗余的容错扫描链电路结构,在触发器输出端插入表决器,可有效地防护单事件翻转,容忍瞬态故障引发的软错误。以多输入特征寄存器的功能复用为切入点,有效地降低容错设计的面积开销。在UMC 0.18μm工艺下针对ISCAS 89基准电路的实验结果表明,TMR-CBILBO的软错误率下降95.56%～98.21%,面积开销为71.68%～84.21%,性能开销为1.75%～4.39%。
- 黄正峰刘彦斌易茂祥梁华国
- 关键词：软错误功能复用三模冗余
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展,集成电路的工艺尺寸不断减小,从而使晶体管更容易老化。本文介绍一种预测老化电路,检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭,降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中,通...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：多路复用电路设计
- 文献传递
- 基于GG-NMOS和二极管的片上ESD防护电路
- ESD问题随着工艺尺寸不断减小而变得日益突出，本篇文章主要实现了基于片上系统的二极管和栅接地NMOS管两种ESD防护电路，通过对两种ESD防护电路的分析与比较，并运用TCAD器件仿真软件模拟两种电路，得到两种防护电路的最...
- 刘彦斌黄正峰梁华国史冬霞严鲁明
- 关键词：性能评价
