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朱夏明

作品数:10 被引量:10H指数:2
供职机构:浙江大学更多>>
发文基金:浙江省自然科学基金国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信理学化学工程更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 4篇专利
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇化学工程
  • 1篇理学

主题

  • 6篇迁移率
  • 5篇溅射
  • 5篇磁控
  • 5篇磁控溅射
  • 4篇氧化铟
  • 3篇晶体管
  • 3篇薄膜晶体
  • 3篇薄膜晶体管
  • 2篇导体
  • 2篇电学
  • 2篇电学特性
  • 2篇电子浓度
  • 2篇电子迁移率
  • 2篇氧化物
  • 2篇氧化锌
  • 2篇易控
  • 2篇平板显示
  • 2篇迁移
  • 2篇硅基
  • 2篇复印机

机构

  • 10篇浙江大学
  • 1篇浙江工业大学...

作者

  • 10篇朱夏明
  • 9篇吴惠桢
  • 9篇原子健
  • 5篇王雄
  • 4篇张莹莹
  • 3篇邱东江
  • 2篇才玺坤
  • 1篇万正芬
  • 1篇张兵坡
  • 1篇徐天宁
  • 1篇杜滨阳

传媒

  • 2篇物理学报
  • 1篇无机材料学报
  • 1篇人工晶体学报
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 1篇2012
  • 3篇2011
  • 3篇2010
  • 3篇2009
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
掺氮氧化锌的光电特性及其在薄膜晶体管中的应用研究
本论文的研究工作围绕实现氧化锌基薄膜晶体管器件这个目标展开。自然生长的氧化锌薄膜通常存在缺陷,具有较高的电子浓度,我们尝试用掺氮的方式来降低载流子浓度。实验采用射频磁控溅射沉积技术,以氨气为掺氮源,优化在非晶玻璃衬底上沉...
朱夏明
关键词:氧化锌光致发光薄膜晶体管光电特性发光强度
文献传递
磁控溅射气体参数对氧化铟薄膜特性的影响被引量:3
2011年
采用射频磁控溅射法生长氧化铟薄膜,研究了溅射气压和溅射气体对氧化铟薄膜结构及光电特性的影响。X射线衍射结果表明制得的薄膜为立方结构的多晶体,随着溅射气压的升高,薄膜晶粒尺寸变大。1 Pa下沉积的氧化铟薄膜具有最大的迁移率和最小的载流子浓度,分别为15.2 cm^2/V.s和1.19×10^19cm^-3。用O2溅射的氧化铟薄膜载流子浓度降至4.39×1013cm^-3,在红外区(1.5-5.5μm)的平均透射率为85%,高于Ar溅射的薄膜,这可能是由于O2的加入减少了氧空位,降低了载流子浓度,使得自由载流子对红外光的吸收减弱。
才玺坤原子健朱夏明张兵坡邱东江吴惠桢
关键词:IN2O3磁控溅射溅射气压电学特性氧空位
一种高电子迁移率氧化铟透明薄膜的制备方法
一种高电子迁移率氧化铟透明半导体薄膜的制备方法,采用双室高真空射频磁控溅射法,是以纯度99.99%的高纯氧化铟为靶材,玻璃等为衬底,以纯度99.99%以上的高纯氩气、氧气的一种或二种为溅射气体,在磁控溅射装置中进行溅射生...
吴惠桢朱夏明原子健
文献传递
In_2O_3透明薄膜晶体管的制备及其电学性能的研究被引量:2
2010年
采用磁控溅射方法在玻璃衬底上生长了In2O3晶体薄膜.该薄膜具有(111)晶面择优取向,晶粒尺寸达到33nm.利用光刻工艺制作了以In2O3晶体薄膜为沟道层的底栅式薄膜晶体管.In2O3薄膜晶体管具有良好的栅压调制特性,场效应迁移率达到6.3cm2/(V·s),开关电流比为3×103,阈值电压为-0.9V.结果表明,In2O3薄膜晶体管在新型平板显示领域具有潜在的应用前景.
徐天宁吴惠桢张莹莹王雄朱夏明原子健
关键词:磁控溅射薄膜晶体管场效应迁移率
一种合金氧化物透明薄膜晶体管的制备方法
一种低温制造透明薄膜晶体管的方法,通过在ZnO中掺入少量的In<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>和SnO<Sub>2</Sub>形成透明的ZnInSnO四元合金半导体薄膜为沟道层,与平板显示等的低温制造技...
吴惠桢朱夏明原子健张莹莹王雄
文献传递
氧化锌锡薄膜晶体管的研究被引量:2
2011年
在ITO玻璃基底上用射频磁控溅射技术生长氧化锌锡(ZnSnO)沟道有源层、用PECVD生长SiO2薄膜作为薄膜晶体管的栅绝缘层研制了薄膜晶体管(TFT),器件的场效应迁移率最高达到μn=9.1cm2/(V·s),阈值电压-2V,电流开关比为104.
王雄才玺坤原子健朱夏明邱东江吴惠桢
关键词:薄膜晶体管场效应迁移率
氧化铟薄膜制备及其特性研究被引量:2
2010年
采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备氧化铟薄膜,通过测试原子力显微镜、X射线衍射、X射线光电子谱、紫外可见分光光度计以及霍尔效应,研究了氧化铟薄膜的结构和光、电特性.实验发现,氧化铟薄膜表面粗糙度随着生长温度的升高而增大.X射线衍射结果表明薄膜为立方结构的多晶体,并且随着生长温度的升高,可以看到氧化铟薄膜的晶粒变大以及半高宽减小,这也说明结晶质量的改善.在可见光范围的透射率超过90%.同时,在氩气氛围下制备的薄膜迁移率最大,其电阻率、霍尔迁移率和电子浓度分别达到了0.31Ω.cm、9.69 cm2/(V.s)和1×1018cm-3.退火处理可以改善氩氧氛围下制备的薄膜的电学性能.
原子健朱夏明王雄张莹莹万正芬邱东江吴惠桢杜滨阳
关键词:氧化铟射频磁控溅射表面形貌X射线衍射电学特性
掺氮ZnO的多声子共振Raman散射光谱研究
我们详细研究了掺氮ZnO薄膜中的多声子共振Raman散射过程,在室温下观察到高达六阶的纵光学(LO)声子峰,而且掺氮后ZnO的共振Raman散射强度显著增强。掺氮ZnO第一阶LO声子的Raman散射强度比未掺杂ZnO样品...
朱夏明吴惠桢原子健孔晋芳沈文忠
一种合金氧化物透明薄膜晶体管的制备方法
一种低温制造透明薄膜晶体管的方法,通过在ZnO中掺入少量的In<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>和SnO<Sub>2</Sub>形成透明的ZnInSnO四元合金半导体薄膜为沟道层,与平板显示等的低温制造技...
吴惠桢朱夏明原子健张莹莹王雄
文献传递
一种高电子迁移率氧化铟透明薄膜的制备方法
一种高电子迁移率氧化铟透明半导体薄膜的制备方法,采用双室高真空射频磁控溅射法,是以纯度99.99%的高纯氧化铟为靶材,玻璃等为衬底,以纯度99.99%以上的高纯氩气、氧气的一种或二种为溅射气体,在磁控溅射装置中进行溅射生...
吴惠桢朱夏明原子健
文献传递
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