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徐如清

作品数:9 被引量:5H指数:1
供职机构:西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金教育部“新世纪优秀人才支持计划”国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:电子电信轻工技术与工程化学工程更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 7篇电子电信
  • 1篇化学工程

主题

  • 3篇多芯片
  • 3篇芯片
  • 2篇多芯片组件
  • 2篇英文
  • 2篇退火算法
  • 2篇芯片组件
  • 2篇模拟退火
  • 2篇模拟退火算法
  • 1篇电磁
  • 1篇电子组装
  • 1篇延时
  • 1篇色散
  • 1篇色散关系
  • 1篇探针
  • 1篇启发式算法
  • 1篇热效应
  • 1篇耦合阻抗
  • 1篇无铅
  • 1篇无铅焊
  • 1篇无铅焊料

机构

  • 4篇西安电子科技...
  • 3篇电子科技大学
  • 2篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 7篇徐如清
  • 4篇杨银堂
  • 3篇董刚
  • 2篇黄炜炜
  • 1篇王冠军
  • 1篇畅艺峰
  • 1篇王文祥
  • 1篇路志刚
  • 1篇魏彦玉
  • 1篇宫玉彬
  • 1篇杨邦朝
  • 1篇胡永达

传媒

  • 2篇电子器件
  • 1篇Journa...
  • 1篇兰州大学学报...
  • 1篇电子科技大学...

年份

  • 1篇2009
  • 3篇2007
  • 1篇2006
  • 2篇2005
9 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化
2007年
基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法,即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示,所提方法与已有的启发式优化算法相比较,对单探针路径的优化最高可达90.2%,可以有效地降低多芯片组件互连基板单探针测试的成本.
徐如清董刚黄炜炜杨银堂
关键词:模拟退火算法
热效应致RLC互连延时变化研究(英文)
2009年
针对热效应导致RLC互连延时增加的现象进行了研究。提出了一种温度依赖的RLC互连延时模型。该模型可以用以量化热效应对互连延时的影响。仿真结果显示,对于RLC互连,温度每增加20℃,延时将会增加5%-6%。
董刚徐如清杨银堂
关键词:RLC互连延时热效应
多芯片组件基板测试的新型组合算法(英文)
2007年
提出了一种用于多芯片组件互连测试的单探针路径优化的新型组合算法.首先使用启发式算法求出待优化问题的初始解,然后使用模拟退火算法对结果进行改进.模拟实验验证了所提算法的有效性.
徐如清董刚黄炜炜杨银堂
关键词:多芯片组件启发式算法模拟退火算法
矩形栅慢波系统的理论与实验研究被引量:5
2006年
为了克服单模近似法在分析矩形栅慢波系统高频特性时的局限性,采用了一种新的方法,即在表示槽区内的场时,保留其高次项,表为一无限本征驻波之和的形式,利用场匹配法得到其色散特性,进而求得耦合阻抗。然后针对矩形栅慢波系统进行了数值计算,并分析了金属栅的几何尺寸对系统高频特性的影响,以作为器件设计的参考。设计出3cm、8mm波段的矩形栅高频结构模型,进行实验测量,得到的实验值与理论值符合良好。
宫玉彬徐如清路志刚魏彦玉王冠军王文祥
关键词:色散关系耦合阻抗慢波系统
LTCC在蓝牙技术中的应用
LTCC在蓝牙技术中得到广泛的应用,本文介绍了利用LTCC技术制备滤波器、天线的方法和原理,以及LTCC在蓝牙技术中未来的发展趋势。
胡永达徐如清杨邦朝徐蓓娜
关键词:LTCC蓝牙无源器件
文献传递
无铅焊技术的发展趋势及可靠性需求
铅污染对地球生态环境及人类健康所造成的影响,随着电子技术的发展而更显突出。本文简述了无铅焊技术实施在材料技术、无铅化电镀技术、无铅化PCB技术、无铅化电子组装技术以及无铅焊产品在可靠性研究方面所面临的课题。
徐如清杨邦朝卢云
关键词:无铅焊料可靠性电子组装
文献传递
多芯片组件电磁干扰频谱中的两次峰值问题研究
2007年
首先采用Thevenin端接方法对多芯片组件(MCM)电路进行阻抗匹配,然后通过建立等效电路仿真模型,研究其电磁干扰频谱中的两次峰值问题.模拟结果表明,第一个峰值频率随负载电容和寄生电容的增大而减小;第二个峰值频率随负载电容和电阻的增大而减小;两个峰值高度分别随负载电容的增大而增大或减小,且当负载阻抗接近传输线特性阻抗时,两个峰值高度均有所下降.仿真结果与MCM中两种瞬态电流引起的电磁干扰分析结果一致.
徐如清畅艺峰杨银堂
关键词:多芯片组件仿真
共1页<1>
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