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董建华

作品数:8 被引量:77H指数:4
供职机构:重庆大学材料科学与工程学院更多>>
发文基金:重庆市科技攻关计划更多>>
相关领域:一般工业技术理学电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 3篇学位论文

领域

  • 5篇一般工业技术
  • 3篇电子电信
  • 3篇理学
  • 1篇电气工程

主题

  • 7篇溅射
  • 7篇磁控
  • 7篇磁控溅射
  • 6篇透明导电
  • 5篇导电薄膜
  • 5篇电特性
  • 5篇光电
  • 5篇光电特性
  • 5篇ZNO:AL
  • 4篇射频磁控
  • 4篇透明导电薄膜
  • 3篇射频磁控溅射
  • 3篇溅射沉积
  • 3篇ZAO薄膜
  • 2篇工艺参
  • 2篇SN
  • 2篇磁控溅射沉积
  • 1篇氧化锌薄膜
  • 1篇室温
  • 1篇铝掺杂

机构

  • 8篇重庆大学

作者

  • 8篇董建华
  • 5篇黄佳木
  • 2篇张兴元
  • 2篇张新元

传媒

  • 1篇太阳能学报
  • 1篇上海金属
  • 1篇重庆大学学报...
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇材料科学与工...

年份

  • 1篇2004
  • 3篇2003
  • 4篇2002
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
ZnO:Al(ZAO)透明导电薄膜的制备及其特性被引量:38
2002年
笔者采用射频磁控溅射工艺、以氧化锌铝陶瓷靶为靶材制备透明导电ZAO薄膜,系统研究了各工艺参数,如氧流量、工作气压、温度、射频功率和退火条件等对其结构和光电特性的影响。实验结果表明:在纯氩气中且衬底温度为300℃时制备的ZAO薄膜经热处理后电阻率降至8.7104 W·cm,可见光透过率在85%以上。X射线衍射谱表明ZAO晶粒具有六角纤锌矿结构且呈c轴择优取向,晶粒垂直于衬底方向柱状生长。
黄佳木董建华张新元
关键词:导电薄膜射频磁控溅射光电特性
透明导电ZnO:Al(ZAO)薄膜的结构及光电特性研究被引量:16
2003年
ZAO薄膜是一种n型氧化物半导体材料,由于其大的载流子浓度和光学禁带宽度而表现出优良的光电特性。本实验采用射频磁控溅射工艺在无机玻璃衬底上制备ZAO薄膜,靶材为ZAO(3wt%Al2O3)陶瓷靶。系统研究了各工艺参数,如工作气压、射频功率、衬底温度和热处理条件对其结构和光电特性的影响。X射线衍射谱表明ZAO薄膜的(002)衍射峰的位置与纯ZnO晶体相比向低角度方向移动,薄膜中各晶粒具有六角纤锌矿晶体结构且呈c轴择优取向。原位制备的ZAO薄膜经热处理后电阻率降至7 5×10-4Ω·cm,可见光透过率在85%以上。
黄佳木董建华张新元
关键词:射频磁控溅射ZAO薄膜光电特性
室温溅射沉积ZnO:Al薄膜的工艺被引量:3
2004年
ZnO:Al薄膜是一种N型宽带隙半导体材料,由于其大的载流子浓度和光学禁带宽度而表现出优良的光电特性。采用射频磁控溅射工艺,在室温下用氧化锌铝陶瓷靶(3wt%Al2O3)溅射沉积透明导电ZnO:Al薄膜,研究了各工艺参数,如氧流量、工作气压和射频功率对其光电特性的影响。实验结果表明:通氧量与靶材中含氧比例存在紧密联系,本实验在氧流量为0sccm,射频功率400W,Ar气为0.7Pa,溅射时间为2.5h的条件下,制备的ZAO薄膜最小方块电阻为65Ω/□,薄膜表面略显黄色。
黄佳木董建华张兴元
关键词:ZNO:AL薄膜磁控溅射光电特性
透明导电In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>:Sn和ZnO:Al薄膜的制备及其特性研究
透明导电氧化物薄膜材料具有大的载流子浓度和光学禁带宽度,因而表现出优良的光电特性,如低的电阻率和高的可见光透过率等。目前此类材料体系包括:In2O3、SnO2、ZnO及其掺杂体系In2O3:Sn(ITO)、SnO2:Sb...
董建华
关键词:透明导电薄膜ZNO:AL磁控溅射
工艺参数对RF磁控溅射沉积铝掺杂氧化锌薄膜特性的影响被引量:12
2003年
ZnO :Al(ZAO)是一种N型半导体薄膜材料 ,具有优良的光电特性 ,如低的电阻率和高的可见光透过率。本文利用射频磁控溅射技术在无机玻璃衬底上制备了ZAO透明导电薄膜 ,研究了工艺参数对其结构和光电特性的影响。结果表明原位制备的薄膜经热处理后具有c轴择优取向的六角纤锌矿结构 ,晶粒垂直于衬底方向柱状生长。薄膜的最小电阻率和可见光透过率分别为 8 7× 10 - 4 Ωcm和 85
黄佳木董建华张兴元
关键词:铝掺杂氧化锌薄膜光电特性
透明导电In<,2>O<,3>:Sn和ZnO:A1薄膜的制备及其特性研究
该研究课题以氧化烟锡靶和氧化锌铝靶为靶材,采用射频磁控溅射工艺在纯氩气氛中沉积ITO和ZAO薄膜,靶材中SnO<,2>和Al<,2>O<,3>的掺杂比例分别为10﹪和3﹪,成膜过程中研究了各工艺参数对其结构和光电特性的影...
董建华
关键词:透明导电薄膜ZNO:ALZAO薄膜
文献传递
磁控溅射沉积透明导电薄膜的结构及光电特性研究被引量:7
2003年
采用射频磁控溅射工艺、以氧化锌铝陶瓷靶为靶材制备透明导电ZAO薄膜 ,系统研究了各工艺参数 ,如工作气压、温度、射频功率和退火条件对其结构和光电特性的影响。在纯氩气中且补底温度为 30 0℃时制备的ZAO薄膜经热处理后电阻率降至 8 7× 1 0 -4Ωcm ,可见光透过率在 85 %以上。X射线衍射谱扫描电镜照片表明ZAO晶粒具有六角纤锌矿结构且呈c轴择优取向 ,晶粒垂直于衬底方向柱状生长。
黄佳木董建华
关键词:ZAO薄膜透明导电薄膜射频磁控溅射光电特性
透明导电In2O3:Sn和ZnO:Al薄膜的制备及其特性研究
透明导电氧化物薄膜材料具有大的载流子浓度和光学禁带宽度,因而表现出优良的光电特性,如低的电阻率和高的可见光透过率等。目前此类材料体系包括:In2O3、SnO2、ZnO及其掺杂体系In2O3:Sn(ITO)、SnO2:Sb...
董建华
关键词:透明导电薄膜ZNO:AL磁控溅射工艺参数
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