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郑磊

作品数：5 被引量：4H指数：2
供职机构：西安电子科技大学更多>>
发文基金：西安应用材料创新基金国家部委预研基金更多>>
相关领域：电子电信经济管理更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇学位论文
  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇经济管理

主题

  • 4篇噪声
  • 4篇散粒噪声
  • 2篇电流
  • 2篇电子材料
  • 2篇数据采集
  • 2篇数据采集与处...
  • 2篇数据采集与处...
  • 2篇相关噪声
  • 2篇处理系统
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇短沟道
  • 1篇短沟道MOS...
  • 1篇元器件
  • 1篇公司股票
  • 1篇沟道
  • 1篇股票
  • 1篇股票价值
  • 1篇H

机构

  • 5篇西安电子科技...

作者

  • 5篇郑磊
  • 3篇陈文豪
  • 2篇包军林
  • 2篇杜磊
  • 2篇庄弈琪
  • 1篇杜磊

传媒

  • 1篇电子科技

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2011
  • 3篇2009
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
电子材料与器件散粒噪声测试方法
本发明公开了一种电子材料与器件散粒噪声测试方法，解决现有散粒噪声测试方法准确性及可靠性差的问题。整个测试系统包括：低温装置、放大系统和数据采集与处理系统。其测试过程为：测试系统背景噪声S<Sub>c</Sub>和被测样品...
杜磊陈文豪庄弈琪包军林郑磊
文献传递
电子元器件散粒噪声特性及测试方法研究
随着介观物理和纳米电子学研究的不断深入，人们发现散粒噪声可以表征纳米器件内部结构信息和电子传输特性。宏观电子元器件内部也存在介观或者纳米尺度的结构，故也会产生散粒噪声，并且其散粒噪声也可能携带有关内部信息。这使人们对宏观...
郑磊
关键词：电子元器件散粒噪声
文献传递
电子材料与器件散粒噪声测试方法
本发明公开了一种电子材料与器件散粒噪声测试方法，解决现有散粒噪声测试方法准确性及可靠性差的问题。整个测试系统包括：低温装置、放大系统和数据采集与处理系统。其测试过程为：测试系统背景噪声S<Sub>c</Sub>和被测样品...
杜磊陈文豪庄弈琪包军林郑磊
文献传递
基于自由现金流折现法H公司股票价值分析与评估
在二十多年的发展进程中，中国资本市场先后实施了股权分置改革，推出了创业板、融资融券业务和沪深300股指期货，逐步走向完善和成熟。2015年5月，沪深两市股票日交易额首次突破1万亿元人民币，总市值超过60万亿人民币，成为全...
郑磊
关键词：股票价值
短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究被引量：2
2009年
针对MOSFET散粒噪声难以测量的特点,提出了一种低温散粒噪声测试方法。在屏蔽环境下,将被测器件置于低温装置内,有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰,采用背景噪声足够低的放大器以及偏置器、适配器等,建立低温散粒噪声测试系统。应用本系统对短沟道MOSFET器件进行噪声测试,分析该器件散粒噪声的特性。
郑磊杜磊陈文豪
关键词：散粒噪声
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