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文献类型

  • 10篇专利
  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 9篇电路
  • 9篇集成电路
  • 5篇电路测试
  • 5篇芯片
  • 5篇集成电路测试
  • 4篇芯片测试
  • 4篇并行测试
  • 2篇信息转换
  • 2篇数据项
  • 2篇数模
  • 2篇数模混合
  • 2篇转换器
  • 2篇自动下载
  • 2篇下载
  • 2篇模数转换
  • 2篇模数转换器
  • 2篇内部存储器
  • 2篇管脚
  • 2篇号码
  • 2篇测试机

机构

  • 14篇北京华大泰思...

作者

  • 14篇石志刚
  • 13篇张琳
  • 13篇刘炜
  • 12篇吉国凡
  • 10篇王慧
  • 10篇金兰
  • 8篇孙杨
  • 8篇孙博
  • 8篇赵智昊
  • 5篇李尔
  • 4篇陈希
  • 2篇肖钢
  • 2篇柳炯
  • 2篇郑忠林
  • 2篇赵伟
  • 1篇侯政嘉

传媒

  • 2篇电子测试
  • 1篇微处理机

年份

  • 4篇2010
  • 6篇2009
  • 2篇2008
  • 2篇2007
14 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
集成电路并行测试适配器设计技术
2007年
重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。
侯政嘉刘炜石志刚吉国凡
关键词:PCB板设计
一种自动下载集成电路序列号码的方法
本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
文献传递
面向集成电路测试的测试数据转换方法
本发明公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法,针对J750系列测试机实施,包括如下步骤:(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放,并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名;(2)根据原始数据文件中的...
刘炜郑忠林吉国凡张琳王慧金兰孙博石志刚赵智昊陈希孙杨
文献传递
用于自动测试设备的有效性校准方法
本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法,包括如下步骤:(1)启动自动测试设备,执行自检程序;(2)自检完毕之后,由外部测量设备连接测试用适配板的测量点,开始校准工作;(3)执行通道特性参数测量;(4)执行管脚参...
张琳吉国凡石志刚刘炜王慧金兰宋奕霖
文献传递
一种对FPGA器件进行测试的方法
本发明公开了一种对FPGA器件进行测试的方法,包括如下的步骤:(1)生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件;(2)使FPGA器件进入配置阶段;(3)从配置文件中提取配置信息并进行数据转换,得到预定管脚的配置数据信号;(...
吉国凡张琳刘炜赵智昊王慧石志刚孙博金兰李尔孙杨陈希
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面向集成电路数模混合测试适配器的电地层处理方法
本发明公开了一种面向集成电路数模混合测试适配器的电地层处理方法,包括如下的步骤:(1)在电源线和地线之间引入退耦电容;(2)加宽电源线和地线的宽度,并使地线比电源线宽;(3)使用大面积铜层作为地线。采用上述方法可以将电源...
石志刚刘炜吉国凡张琳王慧孙博金兰赵智昊李尔孙杨
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SOC芯片中高速ADC的测试方法被引量:2
2007年
本文简单描述了SOC芯片测试技术,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
刘炜张琳石志刚
关键词:片上系统模数转换器
一种自动下载集成电路序列号码的方法
本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
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一种集成电路板级自动测试系统
本发明公开了一种集成电路板级自动测试系统,包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板;其中,计算机连接GPIB接口和USB接口,GPIB接口连接自动分选机,自动分选机和USB接口都连接测试接口板,测试接...
张琳刘炜石志刚吉国凡王慧金兰宋奕霖
文献传递
面向集成电路数模混合测试适配器的模拟布线方法
本发明提供了一种面向集成电路数模混合测试适配器的模拟布线方法。该方法利用差分走线方式布置模拟传输信号资源,并基于等长包地原则进行布线,可以有效解决高速并行测试中模拟信号相互干扰与隔离的技术难题,从而有利于实现集成电路测试...
刘炜石志刚吉国凡张琳王慧孙博金兰赵智昊李尔孙杨
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共2页<12>
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