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刘炜

作品数:20 被引量:8H指数:2
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司更多>>
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相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 11篇专利
  • 7篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 9篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 11篇电路
  • 11篇集成电路
  • 6篇电路测试
  • 6篇集成电路测试
  • 5篇芯片
  • 5篇并行测试
  • 3篇转换器
  • 3篇下载
  • 3篇芯片测试
  • 3篇模数转换
  • 3篇模数转换器
  • 3篇管芯
  • 2篇信号
  • 2篇信息转换
  • 2篇数据项
  • 2篇数模
  • 2篇数模混合
  • 2篇探针卡
  • 2篇自动下载
  • 2篇内部存储器

机构

  • 20篇北京华大泰思...

作者

  • 20篇刘炜
  • 16篇张琳
  • 14篇吉国凡
  • 13篇石志刚
  • 12篇金兰
  • 10篇王慧
  • 8篇孙杨
  • 8篇孙博
  • 8篇赵智昊
  • 5篇李尔
  • 5篇陈希
  • 3篇肖钢
  • 3篇柳炯
  • 3篇赵伟
  • 2篇郑忠林
  • 2篇侯政嘉
  • 1篇王峥

传媒

  • 4篇微处理机
  • 2篇中国集成电路
  • 1篇电子测试

年份

  • 1篇2011
  • 5篇2010
  • 8篇2009
  • 3篇2008
  • 3篇2007
20 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于多site测试的安全芯片加密数据实时下载被引量:2
2009年
首先概述了信息安全芯片的结构、特点及在生产测试中的难点。在生产过程中,自动下载密码时,信息安全芯片可以根据密码算法的具体情况,采用不同的方法生成测试图形。并重点介绍了在生产测试中实时生成信息安全芯片的测试图形的一种方法。该方法从生成特定的安全算法密码到对芯片进行密码写入都是自动的、连续的、实时的。并利用多site进行生产测试,提高测试效率,节约测试成本。通过在泰瑞达J750测试平台上对一款信息安全芯片的量产测试,证明该方法是可行的,高效的。
侯政嘉张琳刘炜吉国凡
关键词:公钥密码
一种自动下载集成电路序列号码的方法
本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
文献传递
集成电路并行测试适配器设计技术
2007年
重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。
侯政嘉刘炜石志刚吉国凡
关键词:PCB板设计
一种自动下载集成电路序列号码的方法
本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
文献传递
基于Multi-Site并行测试的效率分析与研究被引量:1
2011年
在晶圆芯片测试时,提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果。在采用Multi-site方式的并行测试中,需要先解决选择何种产品进行并行测试,如何确定并行site数等问题,然后再用最高效率的方法设计确定Multi-site并行测试方案。从软件和硬件方面,分析当前流行的Multi-site并行测试的效率,研究了影响Multi-site并行测试效率的各种因素,并对其影响深度和范围进行分析,给出相应的对策和提高效率的解决方法,同时还提出了溢出die计算方法,通过选择适当的site数,减少无用touchdown次数,提高测试效率。
金兰刘炜吉国凡
关键词:探针卡晶圆管芯
面向集成电路测试的测试数据转换方法
本发明公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法,针对J750系列测试机实施,包括如下步骤:(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放,并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名;(2)根据原始数据文件中的...
刘炜郑忠林吉国凡张琳王慧金兰孙博石志刚赵智昊陈希孙杨
文献传递
用于自动测试设备的有效性校准方法
本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法,包括如下步骤:(1)启动自动测试设备,执行自检程序;(2)自检完毕之后,由外部测量设备连接测试用适配板的测量点,开始校准工作;(3)执行通道特性参数测量;(4)执行管脚参...
张琳吉国凡石志刚刘炜王慧金兰宋奕霖
文献传递
一种对FPGA器件进行测试的方法
本发明公开了一种对FPGA器件进行测试的方法,包括如下的步骤:(1)生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件;(2)使FPGA器件进入配置阶段;(3)从配置文件中提取配置信息并进行数据转换,得到预定管脚的配置数据信号;(...
吉国凡张琳刘炜赵智昊王慧石志刚孙博金兰李尔孙杨陈希
文献传递
基于晶圆Multi-Site并行测试的效率分析与研究
在晶圆芯片测试时,提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果.在采用Multi-site方式的并行测试中,需要先解决选择何种产品进行并行测试,如何确定并行site数等问题,然后再用最高效率的方法设计确定Multi-...
金兰刘炜吉国凡
关键词:探针卡晶圆管芯
文献传递
SOC芯片中高速ADC的测试方法被引量:2
2007年
本文简单描述了SOC芯片测试技术,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
刘炜张琳石志刚
关键词:片上系统模数转换器
共2页<12>
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