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陈忠睿

作品数：20 被引量：7H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第二十九研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 15篇专利
  • 5篇期刊文章

领域

  • 9篇电子电信
  • 4篇自动化与计算...

主题

  • 7篇微波组件
  • 5篇射频
  • 2篇信号
  • 2篇制作方法
  • 2篇射频芯片
  • 2篇射频信号
  • 2篇矢量
  • 2篇矢量网络分析...
  • 2篇特征相似度
  • 2篇填孔
  • 2篇通孔
  • 2篇同轴
  • 2篇排故
  • 2篇专家资源
  • 2篇组件
  • 2篇网络分析仪
  • 2篇微波
  • 2篇限位
  • 2篇相似度
  • 2篇芯片

机构

  • 20篇中国电子科技...

作者

  • 20篇陈忠睿
  • 8篇曾策
  • 6篇孙毅
  • 4篇向伟玮
  • 4篇卢茜
  • 4篇李慧
  • 4篇孔欣
  • 4篇肖晖
  • 4篇董东
  • 3篇何文灿
  • 3篇崔西会
  • 3篇秦跃利
  • 2篇李沛
  • 1篇廖翱

传媒

  • 2篇电子工艺技术
  • 1篇电子与封装
  • 1篇中国电子科学...
  • 1篇工业技术创新

年份

  • 6篇2024
  • 3篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2021
  • 3篇2020
  • 1篇2019
  • 2篇2017
  • 1篇2016
  • 2篇2015
共 20 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种先通孔氮化镓高电子迁移率晶体管及其制作方法
本发明涉及晶体管技术领域，具体涉及一种先通孔氮化镓高电子迁移率晶体管及其制作方法，包括以下步骤：晶圆正面制作刻蚀阻挡层并实现图形化，然后从上往下依次刻蚀得到深孔，然后去除残留，进行金属化填孔。由于尚未制作源、漏、栅等影响...
孔欣廖承举汪昌思许冰卢茜张剑曾策方杰徐榕青向伟玮李慧董东陈春梅陈忠睿
一种可配置的射频功能单元测试方法
本发明公开了一种可配置的射频功能单元测试方法，具体包括：步骤a、获取射频功能单元的配置文件，生成测试序列；步骤b、检测测试装置是否满足测试序列的硬件要求，若满足执行步骤c，否则结束测试；步骤c、解析调度所述测试序列生成相...
陈忠睿曾策马识途丁义超邹铁城黄禹铭孙毅侯奇峰秦跃利
文献传递
一种平行封焊工装夹具
本实用新型提供了一种平行封焊工装夹具。包括：夹具底座，底座上设置有滑行槽；两个横向滑块，其中一个固定于夹具底座滑行槽的一端，另一个底部设置有突出的滑行块，能够插入滑行槽实现在夹具底座上的滑动；横向滑块一端设置有定位角；纵...
孙毅何文灿崔西会陈忠睿
文献传递
一种基于测试指标相似度的微波组件故障诊断系统及方法
本发明涉及微波组件故障诊断领域，公开了一种基于测试指标相似度的微波组件故障诊断系统及方法，该系统通过故障诊断模块、自动测试模块和故障案例库之间互相配合，完成故障的诊断。本发明中，自动测试模块测试微波产品，并将微波产品的故...
郝立峰侯奇峰赵雪峰陈忠睿曾策黄晓俊冯国彪
文献传递
一种TR组件时间参数测试方法
本发明公开了一种TR组件时间参数测试方法，包括收发通道转换时间测试：通过双路脉冲信号源的两路输出相同的TTL脉冲信号至矢量网络分析仪和被测TR组件；设置被测TR组件的发射T信号为低电平；设置矢量网络分析仪为脉冲测量模式，...
武颖廖明亮陈忠睿李沛苟秀梅
一种激光封焊中大盖板自限位的方法
本发明提出一种激光封焊中大盖板自限位的方法，在盖板或者腔体上放置盖板的槽内制作小凸起结构，当盖板与腔体组装时，在盖板和盖板槽间会应为小凸起的存在而形成过盈配合，实现焊接过程中的自限位。与现有技术相比，此方法可实现盖板的自...
孙毅崔西会何文灿陈忠睿
文献传递
一种先通孔氮化镓高电子迁移率晶体管及其制作方法
本发明涉及晶体管技术领域，具体涉及一种先通孔氮化镓高电子迁移率晶体管及其制作方法，包括以下步骤：晶圆正面制作刻蚀阻挡层并实现图形化，然后从上往下依次刻蚀得到深孔，然后去除残留，进行金属化填孔。由于尚未制作源、漏、栅等影响...
孔欣廖承举汪昌思许冰卢茜张剑曾策方杰徐榕青向伟玮李慧董东陈春梅陈忠睿
微波组件高低温性能预测式测试技术被引量：3
2020年
高低温试验是微波组件生产中的重要环节,对微波组件生产周期具有很大影响。围绕提升微波组件高低温试验一次通过率,采用神经网络算法及测试曲线包络线提取法对常温测试数据及高低温试验数据进行分析,建立常温测试数据与高低温试验数据之间的映射关系模型或对应区间范围,并嵌入测试软件进行应用,对常温测试调试进行指导,以提升微波组件高低温试验一次通过率。结果表明:基于数据分析的高低温性能预测式测试具有可行性和应用潜力,为缩短微波组件生产周期提供了一种可选的新方式。
侯奇峰郝立峰秦跃利陈忠睿杨丹丹冯国彪
关键词：微波组件高低温试验数据分析神经网络
一种TR组件测试电路及方法
本发明涉及TR组件测试技术领域，公开了一种TR组件测试电路及方法，该电路，包括TR组件、微波开关模块、矢量网络分析仪、工控机、双路脉冲码形发生器，微波开关模块包括多级微波开关矩阵、双刀三掷开关，TR组件、多级微波开关矩阵...
廖明亮武颖米添陈忠睿李沛苟秀梅
用于BGA封装组件微波性能测试的夹具及测试方法
本发明提供了一种用于BGA封装组件微波性能测试的夹具及测试方法，包括支撑板；测试母板，设置于所述支撑板的上端面；扎针测试板，与所述测试母板通过金带级连；限位板，设置于所述测试母板，所述限位板中间形成有容纳空间；针板，设置...
吕英飞陈忠睿肖晖唐彬浛何渊
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