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刘瑞林

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：复旦大学更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇少子扩散长度
  • 1篇微波

机构

  • 1篇复旦大学

作者

  • 1篇褚幼令
  • 1篇王宗欣
  • 1篇刘瑞林

传媒

  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇1990
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
用微波光电导谱研究半导体薄片的少子扩散长度和表面复合速度被引量：2
1990年
当半导体薄片同时受到微波和光照射时,通过样品的微波传输系数与光的波长有关,当光的波长连续地变化时,微波传输系数也连续地变化。本文分析了在半导体薄片中的少子扩散长度、少子寿命及表面复合速度与上述微波传输系数的变化△T之间的关系,并通过测量半导体薄片的微波光电导谱计算这些参数。研究表明,可以从微波光电导谱中的△T的峰值位置直接算出少子扩散长度。这是一种无接触、无损伤的快速测试方法,测试区域是直径为3mm的一个圆斑,样品可以在测试台上自由移动。本方法的测试结果与其它方法所得的结果是较为一致的。
褚幼令王宗欣刘瑞林左文德
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共1页<1>
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