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顾伟
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2
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供职机构:
中国科学院光电技术研究所
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合作作者
宋伟红
中国科学院光电技术研究所
赵文川
中国科学院光电技术研究所
李世芳
中国科学院光电技术研究所
侯溪
中国科学院光电技术研究所
伍凡
中国科学院光电技术研究所
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作者
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万勇建
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顾伟
2篇
李世芳
2篇
赵文川
2篇
宋伟红
年份
1篇
2015
1篇
2014
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一种光学元件自重变形量的测定方法
本发明公开一种光学元件自重变形量的测定方法,获取被测光学元件在全重力作用状态下的面形数据,标定干涉仪和标准镜组成的系统的误差;保持干涉仪的参数及位置不变,使被测光学元件没入不同深度的重液,获得被测光学元件的被测面在不同重...
顾伟
伍凡
侯溪
万勇建
李世芳
宋伟红
赵文川
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一种光学元件自重变形量的测定方法
本发明公开一种光学元件自重变形量的测定方法,获取被测光学元件在全重力作用状态下的面形数据,标定干涉仪和标准镜组成的系统的误差;保持干涉仪的参数及位置不变,使被测光学元件没入不同深度的重液,获得被测光学元件的被测面在不同重...
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