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文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇自重
  • 2篇面形
  • 2篇光学
  • 2篇光学元件
  • 2篇干涉仪
  • 2篇变形量
  • 1篇数据点
  • 1篇浸没

机构

  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇万勇建
  • 2篇伍凡
  • 2篇侯溪
  • 2篇顾伟
  • 2篇李世芳
  • 2篇赵文川
  • 2篇宋伟红

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2014
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种光学元件自重变形量的测定方法
本发明公开一种光学元件自重变形量的测定方法,获取被测光学元件在全重力作用状态下的面形数据,标定干涉仪和标准镜组成的系统的误差;保持干涉仪的参数及位置不变,使被测光学元件没入不同深度的重液,获得被测光学元件的被测面在不同重...
顾伟伍凡侯溪万勇建李世芳宋伟红赵文川
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一种光学元件自重变形量的测定方法
本发明公开一种光学元件自重变形量的测定方法,获取被测光学元件在全重力作用状态下的面形数据,标定干涉仪和标准镜组成的系统的误差;保持干涉仪的参数及位置不变,使被测光学元件没入不同深度的重液,获得被测光学元件的被测面在不同重...
顾伟伍凡侯溪万勇建李世芳宋伟红赵文川
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