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刘春蓉

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团第二十六研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇中文专利

主题

  • 3篇频率测试
  • 3篇谐振频率
  • 3篇晶片
  • 2篇电源
  • 2篇掩护
  • 2篇金属片
  • 2篇减薄
  • 2篇键合
  • 2篇溅射
  • 2篇交流电
  • 2篇交流电源
  • 2篇固定架
  • 2篇高温高压
  • 2篇包封
  • 1篇预设
  • 1篇平行度

机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇刘春蓉
  • 3篇唐平
  • 3篇陈仲涛
  • 3篇周哲
  • 3篇杨莉
  • 3篇王洁
  • 3篇许卫群
  • 3篇阳皓
  • 3篇陈映梅
  • 3篇刘祖琴
  • 3篇彭胜春
  • 2篇李洪平
  • 2篇蒋洪平
  • 2篇杨智

年份

  • 1篇2021
  • 1篇2018
  • 3篇2016
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
一种压电陶瓷片的键合方法
本发明公开了一种压电陶瓷片的键合方法，依次包括减薄、剖光、溅射、清洗、包封及键合，在溅射及清洗两个步骤之间还包括制造掩护板，在清洗和包封两个步骤之间还包括装配，其中：制造掩护板包括采用金属材料制造与压电陶瓷片外形相同的金...
蒋洪平李洪平杨智李琼董兴斌刘春蓉
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晶片频率测试装置
本实用新型提供一种晶片频率测试装置，该装置包括金属探头、金属台面、固定架和频率测试仪器，其中金属探头的顶端通过弹性组件连接固定架，底端设置有与金属台面平行的金属片；频率测试仪器用于向金属台面施加不同频率的交流电源，并在不...
陈仲涛彭胜春阳皓杨莉周哲许卫群唐平陈映梅刘春蓉王洁刘祖琴
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晶片频率测试装置
本发明提供一种晶片频率测试装置，该装置包括金属探头、金属台面、固定架和频率测试仪器，其中金属探头的顶端通过弹性组件连接固定架，底端设置有与金属台面平行的金属片；频率测试仪器用于向金属台面施加不同频率的交流电源，并在不同频...
陈仲涛彭胜春阳皓杨莉周哲许卫群唐平陈映梅刘春蓉王洁刘祖琴
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晶片平行度测试方法
本发明提供一种晶片平行度测试方法，该方法可以采用晶片频率测试仪器对晶片上预设的各个测试区域进行频率测试，从而形成各个测试区域的幅频曲线；根据各个测试区域的幅频曲线，确定各个测试区域的谐振频率；根据晶片中谐振频率与厚度之间...
陈仲涛彭胜春阳皓杨莉周哲许卫群唐平陈映梅刘春蓉王洁刘祖琴
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一种压电陶瓷片的键合方法
本发明公开了一种压电陶瓷片的键合方法，依次包括减薄、剖光、溅射、清洗、包封及键合，在溅射及清洗两个步骤之间还包括制造掩护板，在清洗和包封两个步骤之间还包括装配，其中：制造掩护板包括采用金属材料制造与压电陶瓷片外形相同的金...
蒋洪平李洪平杨智李琼董兴斌刘春蓉
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