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刘祖琴
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中国电子科技集团第二十六研究所
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合作作者
彭胜春
中国电子科技集团第二十六研究所
刘春蓉
中国电子科技集团第二十六研究所
陈映梅
中国电子科技集团第二十六研究所
阳皓
中国电子科技集团第二十六研究所
许卫群
中国电子科技集团第二十六研究所
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作者
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唐平
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阳皓
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刘祖琴
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彭胜春
年份
3篇
2016
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晶片频率测试装置
本实用新型提供一种晶片频率测试装置,该装置包括金属探头、金属台面、固定架和频率测试仪器,其中金属探头的顶端通过弹性组件连接固定架,底端设置有与金属台面平行的金属片;频率测试仪器用于向金属台面施加不同频率的交流电源,并在不...
陈仲涛
彭胜春
阳皓
杨莉
周哲
许卫群
唐平
陈映梅
刘春蓉
王洁
刘祖琴
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晶片频率测试装置
本发明提供一种晶片频率测试装置,该装置包括金属探头、金属台面、固定架和频率测试仪器,其中金属探头的顶端通过弹性组件连接固定架,底端设置有与金属台面平行的金属片;频率测试仪器用于向金属台面施加不同频率的交流电源,并在不同频...
陈仲涛
彭胜春
阳皓
杨莉
周哲
许卫群
唐平
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晶片平行度测试方法
本发明提供一种晶片平行度测试方法,该方法可以采用晶片频率测试仪器对晶片上预设的各个测试区域进行频率测试,从而形成各个测试区域的幅频曲线;根据各个测试区域的幅频曲线,确定各个测试区域的谐振频率;根据晶片中谐振频率与厚度之间...
陈仲涛
彭胜春
阳皓
杨莉
周哲
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