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王小强

作品数:13 被引量:20H指数:3
供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术自然科学总论航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 13篇中文期刊文章

领域

  • 7篇电子电信
  • 5篇自动化与计算...
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇自然科学总论
  • 1篇理学

主题

  • 3篇电路
  • 3篇集成电路
  • 2篇电路测试
  • 2篇闪存
  • 2篇结构特点
  • 2篇集成电路测试
  • 2篇FLASH存...
  • 2篇FLASH存...
  • 2篇测试技术
  • 2篇存储器
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇等效性
  • 1篇低压差
  • 1篇递阶
  • 1篇电参数
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇选型
  • 1篇一致性

机构

  • 13篇信息产业部电...
  • 2篇江苏大学
  • 1篇河南信息工程...

作者

  • 13篇王小强
  • 5篇孙宇
  • 4篇罗军
  • 3篇吕宏峰
  • 2篇王晓晗
  • 2篇罗宏伟
  • 2篇梅强
  • 2篇蔡志刚
  • 2篇支越
  • 2篇刘焱
  • 1篇许少辉
  • 1篇费武雄
  • 1篇蒋利田
  • 1篇张菊荣
  • 1篇王文双
  • 1篇邓传锦
  • 1篇李军求
  • 1篇陈波
  • 1篇卢向军
  • 1篇尚斌

传媒

  • 6篇电子产品可靠...
  • 3篇中国测试
  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇电子质量
  • 1篇压电与声光
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 4篇2017
  • 2篇2016
  • 4篇2015
  • 1篇2013
  • 1篇2012
  • 1篇2005
13 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
声表器件质量管理与质量风险相关性分析
2017年
声表面波器件因体积小,质量小,信号处理简单,适于批量生产及可靠性高等优点,在雷达、通信、导航和电视等领域有着广阔的应用前景。目前,我国声表面波器件产品检验合格率相对偏低,质量不高,制约了整个行业的发展。该文通过分析电子元器件质量管理要素与质量风险间的相关性,提出了一种能够通过评价电子元器件质量管理水平预测其质量风险的方法,为声表器件研制企业改善产品质量风险提供了借鉴与参考。
支越梅强王之哲王小强刘焱
关键词:声表面波质量管理
大规模集成电路测试程序质量控制方法研究被引量:4
2015年
集成电路测试程序是集成电路测试的最基本的要素,测试程序的质量直接影响到测试的质量。对大规模集成电路的测试程序的开发过程及影响因素进行了研究,并提出了一套集成电路测试程序质量控制方法,从而保障了集成电路测试程序的质量。
孙宇唐锐王小强
关键词:集成电路开发过程
基于主成分分析的温度对Flash存储器电参数一致性分析被引量:2
2017年
针对温度对闪存(Flash)存储器电参数的一致性影响特性尚不清晰、一致性分析评价方法不明确等问题,提出采用主成分分析法对Flash存储器中的不同电参数进行一致性分析。实验结果表明:温度会对Flash存储器的电参数漂移产生影响,随着温度的升高或降低,Flash存储器电参数的主成分均值与方差具有相反的变化趋势。基于主成分分析法为Flash存储器的电参数一致性评价提供一种手段,温度对其电参数一致性的影响特性对保障产品的质量及改进设计具有指导意义。
李军求张菊荣罗军王小强
关键词:闪存存储器主成分分析电参数一致性
质量风险分配在电子元器件选型中的应用被引量:2
2017年
电子元器件作为整机系统的基础和重要组成部分,其质量与可靠性直接制约整机系统的最终表现。提出了一种基于复杂度和重要度的质量风险层次化分配方法,通过把整机的质量风险指标合理分配至每个组成单元,为整机单位的电子元器件选型提供借鉴和支撑,有效保障整机系统的质量与可靠性。
支越梅强王之哲王小强
关键词:电子元器件选型复杂度重要度
Flash存储器并行耐久测试方法被引量:5
2016年
传统闪存(Flash)芯片耐久测试需要对整块芯片按扇区串行进行擦写测试,测试时间长、效率低、成本高,不利于其批量耐久测试和产业化发展。该文基于"资源换速度"的思想提出一种高效的Flash存储器并行耐久测试方法,通过对多片Flash芯片并行进行擦写测试,对不同芯片擦写不同扇区来提升其耐久测试效率,并进一步对耐久测试Flash芯片的不同扇区等效性进行分析,对等效性需要满足的条件和要求进行探讨。实验结果表明:并行耐久测试能有效缩短测试时间,其效率提升程度与并行测试的芯片数量成正比,加速测试结果与理论曲线符合较好。
罗军王小强蔡志刚孙宇吕宏峰
关键词:闪存并行测试
基于SPEC 2000的桌面操作系统与处理器适配评测被引量:1
2016年
桌面操作系统与处理器的适配评测是提升国产计算机系统质量的重要途径,传统桌面操作系统的评测侧重于软件本身的测试,不能够全面反映其与处理器的适配性能。基于SPEC 2000基准程序集,提出通过比较基准程序集在不同桌面操作系统下的评测分值差异来反映桌面操作系统与处理器的适配性能。进一步提出了剔除程度因子(λ)用以分析不同基准程序对任意两个桌面操作系统评测分值差值的影响,并选用了三种典型的桌面操作系统进行了验证。实验结果表明,剔除对两桌面操作系统差值较大的基准程序或者差值较小的基准程序在一定的λ值下会使不同桌面操作系统下的SPEC 2000整点运算评测分值发生逆转。文中提出的方法是相关软件评测标准在软硬件适配性能维度上的扩展,剔除程度因子的提出有利于判定对桌面操作系统评测分值差值影响较大的基准程序,进而可用于指导桌面操作系统和基准程序的改进和优化。
罗军吕宏峰王小强孙宇
关键词:操作系统SPEC处理器评测
无失效数据的加速寿命试验可靠性参数Bayes估计
2013年
通过对分布函数的分析变换,得到不同时刻失效概率的先验信息,进而得到不同时刻失效概率的Bayes估计;结合加权最小二乘法,可得到产品可靠性指标的Bayes估计。最后用实际的试验数据对数据处理方法的可行性进行了验证。
陈波王小强邓传锦
关键词:无失效数据贝叶斯估计
Perl语言在测试向量生成中的应用被引量:2
2012年
测试向量是集成电路测试必须配置的文件。以10位D/A转换器为例,在器件的时序特性分析的基础上,利用Perl进行数据处理而产生测试向量文件。通过验证,实现了Perl高效生成测试向量文件的应用。
王小强王晓晗
关键词:集成电路测试测试向量
直接数字式频率合成器辐射效应敏感性分析被引量:2
2015年
从直接数字式频率合成器(DDS)的结构出发,对DDS器件的时钟产生单元、相位累加与相位幅度转换器和数模转换器进行了总剂量效应、单粒子效应的敏感性分析。分析认为:辐照前后DDS输出的无杂散动态范围,以及关断功耗是总剂量相对较为敏感的参数;单粒子效应对DDS输出波形的影响为频率改变、相位改变和幅度改变,以及造成输出信号出现毛刺现象,进而影响器件在系统中的功能。
卢向军王晓晗罗宏伟王小强费武雄孙宇吕宏峰刘焱
关键词:直接数字式频率合成器总剂量效应单粒子效应
基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术
2015年
卫星导航射频芯片是导航系统中的关键部分,其指标的优劣决定着导航系统的导航精度。通过分析卫星导航射频芯片的结构特点,针对主要参数进行了测试分析。在基于集成电路自动测试系统(ATE)的基础上,结合射频测试设备实现卫星导航射频芯片的性能测试。该技术对基于ATE的射频芯片测试均具有借鉴意义。
王小强罗宏伟
关键词:集成电路测试结构特点
共2页<12>
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